二手 RAYTHEON HB76109 #9148161 待售

RAYTHEON HB76109是一种用于对面膜和晶片进行精确检查的面膜和晶片检测设备。利用高分辨率电荷耦合器件（CCD）清晰识别缺陷。该系统提供可视化、对齐、聚焦、对比度、放大和自动缺陷检测等功能。检查由500万像素（MP）CCD相机进行，提供包括4K、8K、16K、32K和64K在内的广泛分辨率选项。该单元的扫描速度为6 Mpixels/sec，适合高速检测过程。该机灵敏度高，景深深，具有清晰的图像质量，噪声水平低。检查工具包括手动或自动对齐资产。这允许模型识别要检查的零件,然后将其与零件的图像精确对齐。如果需要,可以进行进一步的对齐调整以纠正错误或提高精度。对焦和对比度模式提供了简单、可调的对焦控制以及精确的对比度控制。该设备还包含一个放大系统,允许将图像尺寸增加到8X。此外,它还具有自动缺陷检测功能,具有多种功能,包括区域图检测、像素计数、长度测量、签名强度计数和半径检查。该单元可与计算机连接,以便于数据传输和分析。该机器包括数据分析软件,允许处理、解释和可视化数据。还可以通过软件利用缺陷图生成和宽电压范围等其他功能。HB76109面膜和晶片检查工具是对面膜和晶片进行严格检查的理想解决方桉。它具有高分辨率、广泛的放大倍率和自动缺陷检测功能,对于需要卓越图像质量以进行检查的制造商来说,它是一个非常宝贵的工具。