二手 ADVANTEST T 2000 #9165412 待售

图为 已使用的 ADVANTEST T 2000 待售
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终测
製造商
ADVANTEST
模型
T 2000
ID: 9165412
优质的: 2013
Tester Configuration: Board Module (8) DPS 500mA (22) 800Mbps DM (2) LCDPS (2) BBWGD (4) PMU32 (2) AAWGD (1) RC5V Module information: [MODULE] [SLOT] [BUS] [CHANNEL] LCDPS 5 5 1 - 8 LCDPS 48 28 9 - 16 AnalogSync 26 17 EXIST DPS500mA 6 6 1 - 32 DPS500mA 32 12 33 - 64 DPS500mA 33 13 65 - 96 DPS500mA 20 23 97 - 128 DPS500mA 9 35 129 - 160 DPS500mA 19 49 161 - 192 DPS500mA 46 55 193 - 224 DPS500mA 43 58 225 - 256 SyncGen36 1 1 EXIST JMM 52 24 1 - 8 BBWGD 35 41 1 - 32 BBWGD 17 51 33 - 64 DM800MBPS 2 2 1 - 128 DM800MBPS 3 3 129 - 256 DM800MBPS 4 4 257 - 384 DM800MBPS 28 8 385 - 512 DM800MBPS 29 9 513 - 640 DM800MBPS 30 10 641 - 768 DM800MBPS 31 11 769 - 896 DM800MBPS 25 18 897 - 1024 DM800MBPS 24 19 1025 - 1152 DM800MBPS 23 20 1153 - 1280 DM800MBPS 22 21 1281 - 1408 DM800MBPS 51 25 1409 - 1536 DM800MBPS 50 26 1537 - 1664 DM800MBPS 49 27 1665 - 1792 DM800MBPS 12 38 1793 - 1920 DM800MBPS 13 39 1921 - 2048 DM800MBPS 38 44 2049 - 2176 DM800MBPS 39 45 2177 - 2304 DM800MBPS 15 53 2305 - 2432 DM800MBPS 14 54 2433 - 2560 DM800MBPS 41 60 2561 - 2688 DM800MBPS 40 61 2689 - 2816 AAWGD 36 42 1 - 32 AAWGD 16 52 33 - 64 PMU32 7 33 1 - 32 PMU32 10 36 33 - 64 PMU32 45 56 65 - 96 PMU32 42 59 97 - 128 SyncMtx36 56 - EXIST SyncMtx36 54 - EXIST 2013 vintage.
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ADVANTEST T 2000是一种Final Test设备，用于对集成电路（IC）和System on Chips（SOC）进行最终测试。它是一个模块化平台，利用最新的测试技术和测试服务来保证高质量的测试。该单元的设计满足了大型和小型IC和SOC制造商及测试所的需求。ADVANTEST T2000提供了多种功能,可帮助实现质量最大化,同时保持快速的吞吐量和成本效益。它具有高速机器总线和测试体系结构,可实现多站点测试、高吞吐量和可靠性。该工具具有高速模拟测量模块、高密度探针卡,可配置用于多个DUT。资产控制着广泛的测试策略，包括测试参数特性、电源导线和粘合线，以及绝缘测试。它还内置了对各种测试算法和测试结构的支持，从而提高了测试的准确性和全面性。这提供了更高水平的生产质量。该模型还提供了高级缺陷检测功能。其光学缺陷检测器能快速识别弱信号开关和DUT的不正确操作。该设备还提供了用于全面测试的在线计量，甚至可以检测到小规模的缺陷。T 2000针对灵活性进行了优化,实现了对多个产品类别的同时测试。它还能够自动测试程序生成（ATPG），从而最大限度地减少编程和维护测试程序所需的工作量。该系统还具有测试灵活性体系结构（TFA）。此体系结构基于虚拟化迭加,该迭加允许设备动态适应逻辑、封装、测试要求和测试方法方面的变化。覆盖还允许数据链路接口测试和综合。最后,该机器易于与测试实验室自动化集成,允许进行全局测试和工具监控。这使得快速测量、分析和比较来自不同位置的测试结果以及管理报告和生成的数据变得容易。综上所述,T2000 Final Test Asset是一个全面灵活的模型,它为IC和SOC制造商提供了广泛的测试服务和功能。它提供高吞吐量、可靠性和准确性,以及高级缺陷检查功能。此外,它的测试灵活性体系结构使其能够轻松适应不断变化的逻辑和测试要求,并与测试实验室自动化系统轻松集成。
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