二手 ADVANTEST T 5335P #293754553 待售

ADVANTEST T 5335P
製造商
ADVANTEST
模型
T 5335P
ID: 293754553
Tester Type: TTL + GPIB Pins: 144 I/O HD Capacity: 2G HV Option 1-16 PMU (TH1-TH2) 1-32 PPS (TH1-TH2) FAM and FBM Size: 8 M Pattern memory: 36 M BGR-020816X02 FAM Board BGR-019267X02 CBU Board BGC-022310 FAM Module BGR-022461 FBM Board module BGF-022575 FAM MRA2.
ADVANTEST T 5335P是生产过程中最后一步的强健、高性能的测试设备。它使制造商能够以高效的方式准确检测缺陷并验证其产品的性能。测试系统利用高速并行测试头同步、模式串流等先进技术,处理各种不同测试要求的产品。先进的机制和实时监测能力确保始终达到最高质量标准。高级故障调试和自动警报功能进一步有助于在最终测试之前主动识别测试问题。该装置最多可支持四十八个并联测试通道,每个通道最多可测试七十二个具有五伏和地面接触的高速引脚。测试头监视和同步模块为机器的多个通道提供了测试功能。所有必需的测试信号都是由工具的高速并行通道同步和脉冲发生器生成,而测试程序开发、模式流和测试控制则是通过资产的图形用户界面(GUI)实现的。ADVANTEST T5335P利用功能强大的数据库,可以存储和引用各种测试程序和故障诊断功能。该数据库还允许实时测试趋势和自动、数据库驱动的测试计划选择。数据库包含一个与各种数据库协议兼容的接口。模型的模式导入功能使用户能够轻松导入在外部设计和测试包中创建的测试程序模式。此功能包括能够直接从Cadence EdgeCon、Mentor Design Studio、Silvaco TELSIM和Verilog HDL导入模式。这大大减少了将测试设计从外部源转移到设备所需的时间和工作量。T 5335 P包括以下系统组件:中央处理单元(CPU)模块、整数程序内存(IPM)模块、堆迭测试头单元和冷却单元。CPU模块用于控制测试头参数,存储测试程序、数据和模式命令,为测试通道生成波形,以及监控测试通道的状态。IPM模块作为存储测试程序和测试结果的主要内存单元。堆迭的测试头单元有一组针脚,用于注入发送到被测试设备的测试信号。针脚以八人为一组,每组独立控制。最后,利用冷却机使刀具保持最佳运转,并保持测试对象的温度。T5335P是一种功能强大、全面的测试资产,旨在满足当今制造业的需求。该模型结合了先进技术、高速测试头同步、模式流、故障调试和数据库驱动的测试计划,为厂商提供了一个高效有效的最终测试阶段测试解决方桉。
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