二手 ADVANTEST T 5335P #9311741 待售

ADVANTEST T 5335P
製造商
ADVANTEST
模型
T 5335P
ID: 9311741
优质的: 1996
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02 DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G TH1: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card TH2: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card DPU: TH1 DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 TH2: DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 FM: 144 M (2) FM Boards Size of FM module: 8 M Memory bank (4) Memory blocks No patten memory BGR-020816X02 FM Board MRA: MRA Option: MRA2 Type of CBU board: BGR-019267 (2) CBU Boards Type of FBM board: 2 M (4) FBM Boards No compression function FCDC: Flash option BGR-020774 SC Board 1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P是为半导体器件提供测试能力而设计的最终测试设备。它是一个可配置的高速测试平台,最多支持10个测试头,允许客户优化测试过程,以实现最大的测试吞吐量和质量。ADVANTEST T5335P具有测试头模块,该模块具有多种接触类型,可满足各种设备测试要求,包括通孔设备和封装,以及微颠簸和翻转芯片测试。它还具有强大的电动螺旋桨,利用高分辨率的探针特殊编程来提供与被测装置(DUT)的精确接触。T 5335 P支持广泛选择测试应用软件产品,使客户能够快速灵活地开发自己的测试程序和应用程序。这包括通用设备和专门的高频测试程序,这些程序可对已建立的内存和逻辑设备以及新兴技术(如MEMS和NFC)进行表征和生产测试。ADVANTEST T 5335 P的硬件和软件系统组件协同工作,提供了快速可靠的高性能测试单元平台。双板载CPU通过在两个CPU之间划分测试序列来加速测试执行。它还支持多达72个通道的并行刺激以及模拟和数字漏斗,允许同时测试多个测试点以提高吞吐量。使用T 5335P,客户可以在高达0.1至160 mV的宽动态范围内达到高达4 sigma或更高的测试精度。这样可以确保高精度的测试数据,提供超出客户预期的结果。除了先进的硬件功能外,T5335P还可以配置多达16架测试设备。有了这样一台可配置的计算机,客户可以访问各种测试模块和附件,从而能够满足广泛的设备测试要求。ADVANTEST T 5335P还提供全面的网络和软件选项选择,为客户提供高度的灵活性,使他们能够定制测试程序和应用程序。它以全面的服务和支持产品为后盾,确保客户保持生产效率并满足他们的测试需求
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