二手 ADVANTEST T 5335P #9311747 待售

ADVANTEST T 5335P
製造商
ADVANTEST
模型
T 5335P
ID: 9311747
优质的: 1996
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02 DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G TH1: 650 No OP1 Pin card No OP2 Pin card TH2: 650 No OP1 Pin card No OP2 Pin card DPU: TH1 DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 TH2: DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 FM: 144 M (2) FM Boards Size of FM module: 1 M Memory bank (4) Memory blocks No patten memory BGR-020816 FM Board MRA: MRA Option: MRA2 Type of CBU board: BGR-019267 (2) CBU Boards Type of FBM board: 2 M, 72 Bit (4) FBM Boards No compression function FCDC: Flash option BGR-020774 SC Board 1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P是一款高端、先进的最终测试设备,专为集成电路和设备测试而设计。该测试系统可供半导体制造设施的工程师、技术人员和操作人员使用。特别适合高速、大容量器件的测试。测试单元能够测试逻辑、溷合信号和射频IC,包括复杂的iC设计。它支持广泛的ATE功能,如静态和动态测试、高速测试、参数测试和RF测试。该机还支持用于测试高密度器件和溷合信号集成电路的超并行(LP)和并行(GP)编程测试。ADVANTEST T5335P利用多个设备以提高吞吐量和准确性。它的电编程逻辑控制器(EPLC)使得测试接口的直接编程成为可能,而它的设备驱动软件则使所有设备的编程变得快捷容易。其高级测试模式语言,包括指令序列,允许对复杂设备进行超高速测试。T 5335 P还可以对设备性能进行数据收集和分析。其高速网络通信接口支持分布式体系结构测试站和仪器,实现高速测试执行和远程访问。与传统的手动测试流程相比,此功能可以更快地执行错误较少的作业。该工具配备了模块化硬件设计,可通过最新的设备模块轻松定制。其开放架构支持多个界面板,使用户能够溷合不同的设备接口进行高速测试。其灵活的可扩展设计(FED)体系结构允许使用新的设备模块、附加的主板功能和附加的I/O接口轻松定制。对于复杂的设备和应用程序编程,ADVANTEST T 5335 P配备了自己的软件语言。这允许直接编程测试序列和设备交互,并完全集成调试、设置和结果。所有指令都可以高精度执行,控制资产设计为监视所有测试功能和结果。该型号还设计用于快速、方便的维护。其用户友好的图形用户界面是为易于使用和可访问性而设计的。它可以快速进行修改,以适应不断变化的客户或行业测试需求,从而使设备具有令人难以置信的多功能性和可扩展性。T5335P是一个功能强大且可靠的最终测试系统,旨在满足最苛刻的测试需求。该设备具有广泛的测试和编程功能,是集成电路和设备制造商必不可少的工具。其模块化的硬件设计、灵活的编程语言、先进的测试模式语言以及直观的用户界面,使其成为复杂的测试和分析必不可少的选择。
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