二手 ADVANTEST T 5371 #9190447 待售
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ID: 9190447
晶圆大小: 12"
优质的: 2010
Memory testers, 12"
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE
Include: Mother board
2010 vintage.
ADVANTEST T 5371是一款市场测试的顶级最终测试设备，适合广泛的半导体器件。它是一个完全自动化、易于使用、可靠且经济高效的解决方桉,可满足任何最终测试要求,允许在单个设备上执行多个测试。这是通过利用高速信号响应测试、高精度测量性能和高效的资源利用能力来实现的。ADVANTEST T5371具有模块化结构和一系列可用的自定义微控制器（CMC）。CMC使系统能够满足最多四种并行技术的高速信号响应测试要求。CMC还融合了数字信号处理、信号控制功能和定制加密等多种高端功能。除了具有高度可靠的信号响应测试功能外,T 5371还提供了极高的测量性能准确性和可重复性。T5371采用了一系列步骤，包括高精度浮点处理器、极精确放大器和各种精密模数转换器。这些组件与高度复杂的信噪比和干扰抑制算法相结合，可以在所有测试频率下进行极其精确的测量。ADVANTEST T 5371还包含了一系列全面的资源利用工具，允许在测试操作期间最有效地利用资源。ADVANTEST T5371包括多会话操作、多产品操作和多种测试方法等多种测试模式，从而可以高效利用硬件和软件资源。此外,该单元还支持一系列自定义选项,使用户能够为每个产品设计自己的自动化过程。为保证持续的高质量测试结果，T 5371配备了先进的容错监测机。此工具的设计目的是在资产未达到性能目标或需要维护时检测、监视和提醒用户。T5371是一个市场领先的最终测试模型,它为用户提供了一个有效、经济高效的测试需求解决方桉。它是一种可靠、易于使用和高度精确的设备,已被证明能够在各种半导体器件测试中取得卓越的效果。
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