二手 ADVANTEST T 5581 P #161369 待售
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ID: 161369
Memory test system
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.320DR+144I/O
2.480DR+144I/O
3.320DR+288I/O
4.480DR+288I/O [1-4] ............> 1
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 2
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.800CH
2.1600CH [1,2] .....................> 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD B ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD C ....> 0 0 0 0 0 0
CHILD D ....> 0 0 0 0 0 0
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-48,97-128] ......> 1-16
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> YES
SIZE OF DBM BOARD ....................................> 64KW*240B
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1-2] [1:NORMAL(AFM) 2:MRA4(FMRA)] .......> 1
NUMBER OF FM BOARD [0-8] ............................> 4
SIZE OF AFM BOARD [0-2] [0:256K 1:1M 2:4M] ........> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [ 3] (3: MRA3) ................ > 3
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1-8] ...........................> 4
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3] (1: 4M*72BIT)
(2: 8M*72BIT)
(3:16M*72BIT) .........> 1
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
RESULT DATA HI-SPEED READ FUNCTION [Y,N] .............> YES
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> YES
END SAVE.
ADVANTEST T 5581 P是一款自动化功能测试设备,专门设计用于测试汽车电子、消费电子、半导体器件和其他集成电路元件等数字和溷合信号产品。该系统为各种设备提供高性能和可靠的测试覆盖。ADVANTEST T5581P集成了12通道并行多用途I/O,时钟速度高达50 MHz,最多4个模拟或数字输入/输出卡。这允许同时测试多达24个通道。该设备还配备了双核处理器,可提供高达400 kHz时钟频率和超过150 m/秒的更快的测试周期。内置的2D扫描仪可提高测试效率和快速循环时间,而获得专利的多传感器测试信号可消除错误的故障报告。另外,其易于使用的外部编程接口支持各种编程语言,包括Visual Basic、C++、ToolC等。该机与强大的测试开发环境相结合,可灵活设计复杂的测试方桉,并根据客户规格轻松定制测试范围。其基于Windows的GUI使用户能够快速对测试进行更改和调整,包括I/O通道、仪器、软件、模拟和数字信号定义。除了用户友好的界面外,T 5581P还采用自动生成方法,自动生成符合客户要求的基准测试程序。T5581P是一种可靠高效的自动化测试解决方桉,可帮助制造商满足其产品的严格质量要求。它配备了一系列安全功能,确保运行测试时操作安全无误,可用于功能测试和边界测试。该工具还能够在一个设置中验证多个设备的功能,使其适用于大规模和复杂的测试。此外,其灵活的架构允许将多个测试套件和相关设备集成到一个资产中,从而进一步提高效率和节省成本。
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