二手 ADVANTEST T 5581 #162958 待售
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ID: 162958
Memory test system
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD B ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD E ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC? CONFIGURATION [1-32] .............> 1-20
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A? 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE.
ADVANTEST T 5581是为测试和测量电子元件和子组件而设计的最终测试设备，包括半导体器件、电子元件和系统。该系统配有复杂的用户界面,具有直观的图形用户界面（GUI）,使操作员能够轻松操作设备并访问各种测试功能和资源。机器包括一个控制台、一个自动或手动测试头以及各种测试探针和探针，允许用户根据自己的要求轻松配置工具。可用的测试头选项允许资产适应各种组件类型,例如CMOS集成电路（IC）、内存IC和RF应用程序。该模型建立在经过验证的ADVANTEST T 7500系列体系结构之上,该体系结构提供了灵活、准确和可靠的测试。八通道主机以高速数据传输速率和高吞吐量提供实速操作,能够有效测试各种组件类型。该设备允许用户创建各种测试场景，最多可以存储30个测试程序，以便于召回。测试头包括脉冲发生器、偏置模块和脉冲调制等内置资源，允许进行一系列测试并准确表征。该系统还具有广泛的测试工具、工具集和增强功能，可以定制以提供强大的功能，包括全视图和小数视图测试、引脚限制和超限测试以及多种测试输出格式。该单元专为各种组件和应用而设计,可在各种情况下提供可靠和准确的结果。结合丰富的功能集,ADVANTEST T5581为用户提供了用于电路测试的最终解决方桉。
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