二手 ADVANTEST T 5585 #293634718 待售

ADVANTEST T 5585是一种高通量的、为大容量晶圆和单元测试而设计的最终测试设备。它配备了最新的APBIT（Advanced Pattern Based In-System Test）技术，使它能够快速准确地测试和验证复杂的设计。该设备每小时可处理多达100个晶圆和多达10,000个电子元件，从而在一个通道内实现高容量的吞吐量，机器由几个元件组成，包括一个大型机，其中装有多个集成电路测试解决方桉（ICTS）和DMT（介电显微镜测试）系统以及一个晶圆和元件管理的通用库。该工具还包括一个可编程的开关多路复用器，允许同时测试多个并行的IC，以及一个用于单元测试的集成探针处理资产。ADVANTEST T5585具有很高的准确性和可重复性。它能够使用APBIT技术测试复杂的设计,从而能够同时检查多达8种缺陷模式,以及1.2秒/模块的快速测试时间。该模型提供了高速缺陷覆盖，并可以检测双图像，桥接，短裤和开放测试参数在扫描频率高达300MHz。T 5585的设计提供了高度的灵活性，具有测试自动化和定制功能。它支持广泛的标准,包括MIL-STD-883、JEDEC和IEEE 1687的多种口味。它还支持各种测试硬件接口,例如简单的布线连接和易于使用的图形用户界面支持的矢量和模块化插针交换。该设备还提供晶圆级测试的热分析以及温度测量功能,以确保设备温度保持在指定的测试条件内。此外,系统的k因子精确测试管理单元（PTM）支持高级设备表征和调试功能。T5585是满足最高速度、最高精度最终测试需求的理想解决方桉。它为大容量晶圆和单元测试提供了高效、准确和可扩展的测试解决方桉。