二手 ADVANTEST T 5585 #9351974 待售
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ID: 9351974
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,2,4,8] ........................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..........................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M 2:16M] ...............> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5585是一款高性能的Final Test Equipment，用于半导体器件如MCU、内存和其他类型的集成电路。它配备了高速、高精度的高通量处理程序，容量高达每小时5000台设备。ADVANTEST T 5585的优化设计提高了最终测试的生产率,使其对晶圆探测应用更加有效。T 5585将Silicon （SIL）和EUT （EUT）解决方桉集成在一个平台中,为设备和过程定制提供了易于使用的框架。它具有强大的硬件和智能软件功能,允许用户配置测试序列并准确分析结果。该系统还配备了一个设备编程模块，提供了一套设备编程、测试模式生成、闪存和eprom擦除以及设备编程的综合软件工具。该单元能够进行各种质量控制、可靠性测试和功能测试。它支持边界扫描、定时测量、功率分析等标准数字测试。它还支持交流和直流模拟测试功能。T5585配备了各种不同的测试平台，每个平台都有可配置的电路结构，最多可支持256个信号。ADVANTEST T 5585提供模块测试、设计分析、模具保质期测试、电气泄漏测试和温度循环等可靠性测量。它还支持设备激光标记和标签。ADVANTEST T5585是一种高度自动化的测试机器。它具有Work Table Manager,它为设备加载、卸载和测试执行创建单独的进程。ZERO-EL运算符屏幕提供对可编辑测试配方、设备图形数据和各种其他关键信息的支持。该工具还与各种错误处理程序和其他工具兼容。T 5585的设计是为了满足任何单站点或多站点晶片探测应用的需求。在稳定可靠的平台上构建，保证提供准确可靠的结果。它具有许多高级特性和功能,是满足任何测试或质量控制需求的完美解决方桉。
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