二手 ADVANTEST T 5586 #9075036 待售
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ID: 9075036
Tester
TEST RATE 500Mhz
SYSTEM SOFTWARE ASX/U-51
VERSION 6.03-2
CPU TYPE SUN Blade 150
PIN CONFIGURATION 1536DR + 1152IO/STN
HIGH SPEED CLK CHANNEL 64/STN
DC ONLY CHANNEL 128/STN
TIMINNG SET 16
DATA BUFFER MEMORY 256KW X 80BIT
INSTRUCTION MEMORY 1KW
TEST HEAD 2
CONFIGURATION DPU 1'ST DPU 2'ND DPU
DC CONFIGURATION 1-64
DEVICE POWER SUPPLY 10V PPS SPEC 0.8A
10V PPS SPEC 1-192
1'ST GPIB I/F BOARD BGR-022449
2'ST GPIB I/F BOARD BGR-024498
DMM TYPE R6552T-R
AC FREQUENCY(HZ) 60
CONFIGURATION OF ALPG 2EA X=16,Y=16
CONFIGURATION OF DBM no
CONFIGURATION OF FM yes.
ADVANTEST T 5586是一个精密高效的最终测试系统,旨在为电子半导体产品的制造提供更高的质量和可靠性。该系统用途广泛,包括多种测试选项,包括自动测试程序发生器(ATPG)模块、核心测试模块(CTM)、晶体管-溷合器-移位比较器(TMSC)模块、环境应力测试(EST)模块和高级监控模块(AMM)。ATPG模块的设计目的是生成测试,准确地强调制造设备的各种操作。它能够生成复杂的测试模式,代表测试设备可靠运行的现实条件。此外,本模块还提供了对测试过程中收集的参数测量的全面分析。CTM模块是半导体产品的高度自动化测试资源。它具有开放式体系结构设计,使各种编程语言和逻辑设计的用户都可以访问它。该模块旨在实现板与板之间测试的自动化,使用嵌入式处理器来解释测试模式并提供一组核心测试命令。CTM模块还提供了广泛的测试,例如可测试性设计(DFT)测试,以及产品可能需要的专门测试。TMSC模块是一个组合的TMS(晶体管-溷频器-Shift)设备和Comparator模块。它旨在为高速应用中的逻辑信号和组件提供一种可靠、准确和可靠的测量方法。该模块采用三重DIO(数字输入输出)体系结构,允许对最多三个设备进行并发测试。该模块还具有错误检测和校正系统,以确保产生准确的测试模式。EST模块旨在使用户能够在极端温度、压力和湿度条件下测试半导体组件。此模块能够在-40C和+120 C之间的环境条件下,在高达180 MPa(毫巴)的压力下测试组件。此外,EST模块可以在30分钟内达到+99% RH,并且能够使用单个命令在环境评级之间切换。最后,高级监控模式(AMM)模块监控设备制造的生产过程,确保按照设定的标准生产高质量的设备。此模块可以检测与生产过程的错误和偏差,并向操作员发出问题警报。这些信息可用于改进质量控制过程,提高制造过程的效率和可靠性。
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