二手 ADVANTEST T 5592 #163116 待售
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
ADVANTEST T 5592是半导体芯片的最终测试设备。它专为高引脚计数（HPC）微处理器、存储器和其他需要大量数据和电气测试引脚的设备的晶圆和设备级别测试而设计。T 5592系统对于需要快速高效测试过程的设备制造商来说是一个很好的解决方桉。ADVANTEST T 5592通过集成体系结构提供了总体测试能力。该单元结合了Maximus软件和VectorStar硬件,能够控制设备测试、接口、控制和结果分析。Maximus软件提供高达32倍的并行测试，允许用户减少测试时间和成本。T 5592机的主要特点之一是其可扩展的设计，能够测试多达512针。该工具使用高速I/O和高分辨率ADC功能,实现全面的参数化和功能性测试。它还提供多种测试模式，包括晶圆级测试的测试前模式，以及设备更换、修复和表征，以最大限度地提高测试吞吐量。ADVANTEST T 5592为器件测试提供了尽可能高的传感分辨率，支持最大精度和质量保证。Data platform Asset-on-Chip测试也提供高速测试能力。它还提供内置的高速测试算法库，允许高并行和快速测试实现功率、阻抗和其他高速测试。T 5592的主要优点是提供了可重复、一致的高质量测试结果。这意味着设备制造商可以信任其设备测试的结果。该模型还能够适应设计和制造方面的变化，使其成为高端测试人员的绝佳选择。凭借其集成的体系结构和可扩展的设计,ADVANTEST T 5592提供了快速高效的测试,帮助设备制造商在竞争激烈的半导体测试市场中保持领先地位。该设备是半导体器件高质量、高精度测试的完美解决方桉。
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