二手 ADVANTEST T 6671E #66605 待售
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ID: 66605
Tester
Speed: 125 MHz at 512 pins
Includes:
BICMOS2-284CH Single station prober
6TE/pin 32TS Timing generator
16MW STE Vector
Data fail memory: 256W 2 Bits/pin
Scan pattern generator
TC2 Sparc tester controller
Multi DC parametric measuring unit
2.1G Hard disc
GPIB Port, CD Rom
Floppy drive, 3.5"
Color monitor, 21"
AG/AE Probing assembly
Performance board and robot calibration unit
Options:
PDS 0-256 Channel option
512 meg x 2 I/O SCPG option
FM3 Option
Power supplies:
10 V, 5 A, 8 Channels.
ADVANTEST T 6671E是一种自动化的现场最终测试设备,专为板、模块和产品级别装配的装配、配置和测试而设计。高级测试解决方桉操作简单、效率高、成本节省。它非常适合大批量商业产品和小批量产品。该系统由多个单独的仪器、测试接口和软件应用程序组成,可通过多个步骤运行测试。T 6671E装置的速度和精度是关键特征.这台机器可以在单个数字多路复用中处理多达48个数字多路复用板和2,000个通道。它对测试板和产品采用多级测试方法,包括机载诊断、结构测试、功能测试和设备测试。该工具能够同时运行多个测试,这有助于快速识别问题,从而缩短测试时间。软件套件提供了一个直观的用户界面,可以快速设置和运行测试,跟踪和记录测试结果,并根据具体要求定制测试。该资产提供了许多高性能测试和组件,例如数字扫描仪、测试夹具、处理程序、外围设备和用户界面。数字扫描仪的设计具有最大的灵活性和性能,允许多达32个单独的通道进行高吞吐量测试。测试夹具具有许多功能,包括可验证的印刷电路板(PCB)、灵活的连接器以及与各种仪器输入/输出类型的兼容性。此外,处理程序还提供了易于使用的集成模型,用于测试中小型元件和组件。该设备还可用于自动化设备测试,从而节省时间和资源。ADVANTEST T 6671E自动化设备测试功能包括用于检查元件和电路板的集成显微镜、集成测试/重新聚焦控制以及多个测试例程。此外,系统还可以配置多个设备配置,以利用不同的测试功能并一次运行多个测试。T 6671E是对电子元件进行高容量高效测试的理想解决方桉。其先进的功能、集成的软件套件和强大的体系结构确保了设备的可靠性、准确性和速度。此外,还可以快速轻松地将机器配置和集成到任何生产设施中。
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