二手 ADVANTEST T 6671E #9179759 待售

ADVANTEST T 6671E是一种高端、先进的自动化测试设备（ATE），设计用于广泛的半导体组装和最终测试应用。T 6671E设计时考虑到灵活性和可靠性,利用先进的技术提供高效、准确且易于使用的测试平台。ADVITEST T 6671E的多通道架构将每组4K位元（8K in explanded）记忆体的八个独立群组结合在一起，提供共32 K位元的位点。它还具有具有通道控制和排序的多功能测试前端、多重逻辑比较功能、定时和脉冲参数化、芯片级自测、分析能力。作为一个高级ATE, T 6671E还提供了一个内置的处理器平台和嵌入式用户界面（UI）,将高度复杂的软件算法与一组硬件组件溷合在一起。UI具有功能齐全、易于使用的图形用户界面（GUI）,用于测试规划、排序和编程。它还为装配的测试和调试提供了全面的数据测试和测量功能。对于高级测试应用，ADVANTEST T 6671E通过其JTAG扩展提供扩展测试功能。这允许直接访问板载内存、寄存器位和外围设备IO,以及支持外部TDO和TMI访问。至于最终测试应用，T 6671E配备了广泛的故障覆盖能力。其自检模式（STM）支持内存测试、误码率测试和嵌入式扫描测试。错误检测实验（EDC）支持同时测试溷合（MST）和单位（SBT）的4个通道以及多立方分布（MCD）。最后,ADVANTEST T 6671E通过GP-IB、以太网和串行接口支持提供增强的灵活性和连接性,从而能够与外部系统集成。简而言之，T 6671E是一个功能强大且可靠的ATE系统，专为一系列应用领域而设计。其强大的、基于处理器的体系结构、JTAG扩展、故障覆盖功能以及广泛的连接选项,为工程师和技术人员提供了一个高级、易于使用的平台,用于最终测试应用程序。