二手 BXM 2010MEL #9225031 待售
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ID: 9225031
EL Tester
Resolution: 16 M
Room temperature: 30°C
Exposure time: 1-60S Adjustable
EL Image display:
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sample code display
Image processing:
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Gray scale
Shear
Rotate
Search: Bar code & date
Operating system: WINDOWS XP
Air supply requirements: 0.6~0.8 MPa
Maximum testing range: 2000x1000 mm
Testing cycle: 20s
Power up mode:
Before lamination: Module is charged connection by clip
After lamination: Module is charged connection by plug
Working environment:
Temperature range: +15°C~+40°C
Humidity range: 10%~75%
Power supply: DC100V / 10A
Power requirements: AC220V, 15A, 3kW.
BXM 2010MEL是一种先进的最终测试设备,设计用于现代高性能电子元件和组件的测试和分析。它配备了业界领先的设计体系结构以及先进的数据处理和分析功能,能够快速准确地测试产品。该系统经过优化,以了解各种电子设备的性能和功能,以及不同组件之间的关系。2010MEL具有一整套测试软件和硬件功能。该单元由一个中央控制器组成,一个用于测试头的外壳,它具有测量温度和湿度等东西的环境传感器, 一个温度校准单元,一个带有用于插入电子元件的接入端口的测试头, 具有多通道的低噪声控制级、低通的可编程滤波器、 高通、带通和槽口滤波器,以及数字电源。该机器能够对包括模拟、数字和溷合信号组件在内的各类产品进行多种测试。它利用多种技术测试中、大型集成电路和组件,如开关、布尔、时间间隔和静态/动态测量。应用刺激可以根据被测产品的特性而变化。此外,测试工具可以提供时间排序、光谱分析、参数数据分析和快速傅立叶变换等广泛的数据处理能力。BXM 2010MEL设计为用户友好,并提供全面的图形用户界面。直观的界面使用户可以轻松创建测量设置、定义公差和条件以及为动态测试和分析设置刺激和响应。该资产还允许测量复制,包括测试条件、数据分析、结果和数据日志,这些数据可以轻松导入和导出。配置存储在管理数据库中,这样可以快速复制以前的测试。2010MEL是一个功能强大、用途广泛且经济实惠的解决方桉,用于最终测试和分析电子元件和组件。它强大的设计、扩展的功能和直观的用户界面使其成为各种应用程序中关键任务质量保证和可靠性测试的理想模型。
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