二手 LTX-CREDENCE Quartet #9213487 待售

製造商
LTX-CREDENCE
模型
Quartet
ID: 9213487
优质的: 1990
Tester Prober interface Pogo tower PIB Board Digital and DSP analog per-pin architecture Digital and mixed-signal Fully pin mapped Multisite testing Digital I/O channels: 32 to 512 Formatted data I/O: 200 MHz Clock data I/O: 200 MHz Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector Switch: Period and timing sets Synchronous clock: 128 per Digital pins Low jitter Source / Measure synchronization DSP Analog channels: 4 to 128 Independent scan memory Full spectrum of impedance matched Differential DSP instruments Independent DSP processor per capture instrument Phase coherent: Superclock per DSP instrument Integrated analog and digital UNIX Based workstation Fully integrated network and prober / Handler interfaces (2) Analog segments (4) Independent digital subsystems Test tool Clock speed: 150 MHz Scan: 256 M MP Type: Hinge 256 Channels (2) DPS Vector memory: 16 M PMU 64 Channels: 4 PE Card 8 channels: 32 VI8: 1 DIST B/D: 4 PPM 16 Channels: 16 Cycle length 128 channels: 2 Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase 1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartet是为提供半导体器件综合测试而设计的最终测试设备。该系统在一个紧凑的平台中结合了四个基本工具;参数化测试仪、曲线示踪器、半导体晶圆检测仪和自动界面。所有四种工具都集成在一个设备中,从而提高了半导体元件生产测试的效率和便利性。四联测试机采用参数测试仪测试集成电路的增益和回转速率等参数。参数化测试仪能够测试静态元件和具有动态特性的元件。它也可以用来测试半导体模具以及各种不同的封装配置。该工具还提供了一种可编程的晶圆曲线示踪器,用于测试半导体晶圆或薄膜晶体管。该工具能够测量电流、电压和电容,可用于分析小型半导体器件的电气特性。LTX-CREDENCE Quartet的检验资产提供了测试半导体器件的全面视图。此模型能够快速拍摄组件的照片,生成可用于确定是否存在任何缺陷的高分辨率图像。设备还包括用于检测设备物理形状异常的高级算法。系统产生的图像自动存储在安全的云中,可以在生产过程的后面快速引用。最后,Quartet提供了一个直观的自动化界面,无需任何手动干预即可轻松操作。此界面使用户能够快速轻松地配置设备以进行各种测试,从而缩短了设置时间并提高了工作效率。由于这些原因,LTX-CREDENCE Quartet是一款吸引人的半导体生产最终测试机器。它结合了四种基本工具的能力,使得集成电路、晶圆和其他组件的测试能够快速方便,而其直观的接口使其易于使用。总而言之,这个工具是任何半导体测试任务的绝佳选择。
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