二手 LTX-CREDENCE Quartet #9213487 待售
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ID: 9213487
优质的: 1990
Tester
Prober interface
Pogo tower
PIB Board
Digital and DSP analog per-pin architecture
Digital and mixed-signal
Fully pin mapped
Multisite testing
Digital I/O channels: 32 to 512
Formatted data I/O: 200 MHz
Clock data I/O: 200 MHz
Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector
Switch: Period and timing sets
Synchronous clock: 128 per Digital pins
Low jitter
Source / Measure synchronization
DSP Analog channels: 4 to 128
Independent scan memory
Full spectrum of impedance matched
Differential DSP instruments
Independent DSP processor per capture instrument
Phase coherent: Superclock per DSP instrument
Integrated analog and digital
UNIX Based workstation
Fully integrated network and prober / Handler interfaces
(2) Analog segments
(4) Independent digital subsystems
Test tool
Clock speed: 150 MHz
Scan: 256 M
MP Type: Hinge
256 Channels
(2) DPS
Vector memory: 16 M
PMU 64 Channels: 4
PE Card 8 channels: 32
VI8: 1
DIST B/D: 4
PPM 16 Channels: 16
Cycle length 128 channels: 2
Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m
Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase
1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartet是为提供半导体器件综合测试而设计的最终测试设备。该系统在一个紧凑的平台中结合了四个基本工具;参数化测试仪、曲线示踪器、半导体晶圆检测仪和自动界面。所有四种工具都集成在一个设备中,从而提高了半导体元件生产测试的效率和便利性。四联测试机采用参数测试仪测试集成电路的增益和回转速率等参数。参数化测试仪能够测试静态元件和具有动态特性的元件。它也可以用来测试半导体模具以及各种不同的封装配置。该工具还提供了一种可编程的晶圆曲线示踪器,用于测试半导体晶圆或薄膜晶体管。该工具能够测量电流、电压和电容,可用于分析小型半导体器件的电气特性。LTX-CREDENCE Quartet的检验资产提供了测试半导体器件的全面视图。此模型能够快速拍摄组件的照片,生成可用于确定是否存在任何缺陷的高分辨率图像。设备还包括用于检测设备物理形状异常的高级算法。系统产生的图像自动存储在安全的云中,可以在生产过程的后面快速引用。最后,Quartet提供了一个直观的自动化界面,无需任何手动干预即可轻松操作。此界面使用户能够快速轻松地配置设备以进行各种测试,从而缩短了设置时间并提高了工作效率。由于这些原因,LTX-CREDENCE Quartet是一款吸引人的半导体生产最终测试机器。它结合了四种基本工具的能力,使得集成电路、晶圆和其他组件的测试能够快速方便,而其直观的接口使其易于使用。总而言之,这个工具是任何半导体测试任务的绝佳选择。
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