二手 NEXTEST / TERADYNE Maverick II ST #9279295 待售
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ID: 9279295
Tester
Clock speed: 66 / 133 MHz
IO Pins: 64
Pin electronics: 4
Algorithmic pattern generator
Data buffer memory: 36 M
Vector memory: 4 M
Error catch memory: 36 M
Scan memory: 2 M.
NEXTEST/TERADYNE Maverick II ST是为当今最复杂的系统封装(SiP)、半导体车载(SOB)和常规组件设计的高性能、先进的第二代测试设备。NEXTEST Maverick II ST可以配置为通过其面向解决方桉的平台提供最佳的测试覆盖范围,同时实现灵活的测试策略,从而降低测试成本并加快测试时间。TERADYNE MAVERICK II-ST的集成多模具体系结构可提供高达1080个I/O通道的测试覆盖范围,并具有可互换的VXI和PXI模块,可配置这些模块以满足客户的需求。此外,它还提供一流的吞吐量、信号完整性和多个同时测试通道,提供业界领先的性能。该单元还提供了超高针数多门支持,以确保测试时设备的全面闸盖。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK II-ST还通过其强大的测试执行软件启用了灵活的测试策略,该软件具有许多旨在简化测试计划和实施的功能。它的测试入口点解决方桉和多个测试流支持使用户能够在适当时利用与订单无关的测试策略,或者根据需要轻松开发测试入口点和测试流特定策略。此外,机器还提供高级诊断功能,包括工具识别、测试数据分析以及模式生成和测试调试工具。Maverick II ST最终测试资产构建在开放平台上,允许用户集成多个软件应用程序、硬件组件和第三方解决方桉。强大的模型提供了高度的灵活性,允许用户自定义他们的体验以满足他们的个人需求。总体而言,TERADYNE Maverick II ST是一款功能强大且用途广泛的最终测试设备,旨在以一流的性能和高效的测试策略提供全面的测试覆盖。该系统具有模块化体系结构、开放式平台功能和高级诊断工具,是测试当今复杂的SiP、SOB和常规装配的理想解决方桉。
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