二手 SPEA C372MX #293589284 待售

SPEA C372MX是一种非常先进的最终测试设备，旨在为各类电子模块提供精确可靠的测试结果。它是典型的基于第三代高速时域反射计（TDR）的系统，适用于各种工业和实验室用途。它结合了先进的板载信号处理器和软件以及独特的测试算法，提供准确和可重复的结果。SPEA C372-MX单元提供方便用户的操作。它具有易于使用的图形用户界面，可以设置各种各样的测试参数，快速准确地定义测试点。其讯号处理器使得可以使用全方位的输入讯号，从低压接地到高电压，并测量正在用讯号测试的装置或元件的特性。C372MX机器提供各种参数来确定元件特性。这些参数包括插入损耗（IL）、返回损耗（RL）和介电常数（K）。凭借广泛的测量能力，该工具可以精确测试连接器、电缆、薄膜电容器、电阻器和各类IC等组件。资产还能够存储先前测试过的任何组件的测试点测量结果,并提供有关测量参数结果的报告。此外，C372-MX模型还提供了一套综合工具，用于分析其测试结果。其中包括用于评估组件性能的手动和自动测量,例如表征曲线和阻抗/频率图。这对于确定设备的加速度和稳定性特别有用。最后,该设备包括一个用于存储和测试结果信息的数据库,以便于比较和识别任何问题或问题。总之，SPEA C372MX系统是一个可靠、高效的最终测试单元，具有良好的性能。利用先进的处理能力和全面的测试算法,保证了机器的质量和可靠的结果.通过其用户友好的界面,SPEA C372-MX提供了一种简单但全面的方法来测试各种组件并快速准确地分析结果。