二手 TERADYNE 239-026-xx #9189896 待售

TERADYNE 239-026-xx最终测试设备专为晶圆级或封装形式的半导体器件的表征、筛选和最终测试而设计。此模块化系统为表征和最终测试应用提供了可靠的高性能平台,并为各种高通量设备需求提供了灵活的测试功能阵列。239-026-xx提供了真正的并行测试、高速仪器控制、高速数据捕获、测试板仪表和多功能测试功能。主要单元组件包括可编程测试控制和大型机、高速TAP控制器、用于测试头和控制卡的多个大型机插槽以及各种多站点测试接口卡。该机允许同时运行多个测试卡，这对于并行测试多个设备站点以加快吞吐量和减少测试时间很有用。此外,可以在模块化配置中部署多个测试板,从而以较低的成本实现灵活的测试条件。该工具支持多种通信协议，包括IEEE 488 （GPIB）和SCPI。这有助于确保与各种顶级仪表控制器（如TERADYNE E5700系列）的兼容性。TERADYNE 239-026-xx通过多种用户友好的仪器功能得到进一步增强,如自动化测试程序、图形编程、多种测试语言、极限检查、直接仪器/内存访问、串行测试设置、捕获速率调整和高速数据捕获。通过高效的测试板仪表，用户可以经济地同时测试多个设备，同时使用模拟和数字I/O类型，以及各种模拟和数字参数测试，如DMM、DC、AC和信号测试。239-026-xx资产还提供了几种增强测试功能的模型选项。例如，设备可以配置多个差分通道接口卡，允许与多个设备进行更多的同时测试。此外,多功能测试选项（MFTO）提供了经济高效的测试解决方桉,可减少各种半导体测试应用中的测试和成本。该系统还可以与可选接口选项结合使用,例如高密度数字串行I/O、数字逻辑测试、模拟测试、交流/直流测试、温度测试等等。TERADYNE 239-026-xx最终测试单元是用于表征和最终测试应用的可靠的高性能平台,可提供多种设备测试要求的广泛功能。凭借先进的仪器功能、灵活的多站点测试功能以及各种接口和机器选项,239-026-xx可以配置为提供经济高效的解决方桉,以最大限度地提高吞吐量并缩短测试时间。