二手 TERADYNE 515-457-A1 #9315339 待售

TERADYNE 515-457-A1是一种高性能的最终测试设备，设计用于高复杂性半导体器件的自动化生产测试。515-457-A1构建在经过TERADYNE验证的MX平台上,设计用于固有可靠且可重复的性能,尤其是用于测试集成电路（IC）时。TERADYNE 515-457-A1系统基于Windows 10操作单元,能够测试各种外形规格的IC,包括模具、芯片比例包（CSP）和四方平板（QFP）。该机具有高速并行数据采集功能,CSP的周期时间小于0.75毫秒,QFP设备的周期时间小于1.0毫秒。这样做的目的是确保能够满足和超过快速的生产要求。515-457-A1能够并行测试多达24台设备,从注册点开始通道到通道偏斜<200 µs。该工具还包含对每个测试参数的完全限制管理,允许在需要时进行多次生产设置。该资产还提供通用的分析和操作控制,用于测试数据审查、故障识别、故障通行证跟踪和测试配方管理,并具有完整的网络和远程访问功能。TERADYNE 515-457-A1还配备了专利散热模型，用于控制正在测试的设备的温度。在易用性方面,515-457-A1支持用户友好的GUI和各种自动化功能,旨在减少操作员的时间和复杂性。这包括提供各种诊断算法、统计分析和标准波形格式库，用于测试各种IC和封装类型。TERADYNE 515-457-A1设备还为灵活的生产设置和测试编程提供了广泛的支持。该系统支持旨在减少编程时间的图形测试开发工具，以及旨在提供可追踪数据和高效故障隔离的各种诊断工具。综上所述，515-457-A1是一个先进的最终测试单元，旨在轻松满足高复杂性半导体器件的生产测试要求。它提供全面的功能和高速性能,能够满足中高批量生产要求。它还为远程访问提供了完整的诊断功能、灵活的编程选项和网络支持。对于希望提高其IC测试生产过程效率的制造商来说,该机器是一个理想的解决方桉。