二手 TERADYNE 875-957-01 #9135325 待售

TERADYNE 875-957-01
製造商
TERADYNE
模型
875-957-01
ID: 9135325
TMS Timer subsystem, LNS-Y-12 SUPPLY TWK 10 V.
TERADYNE 875-957-01 Final Test Equipment是一个自动化的测试系统,提供全面、多用途的功能测试,让厂商专注于自己的产品,提高产量性能。它是一个高度灵活、多站点的解决方桉,旨在精确测试各种半导体器件,包括FPGA、PLD、ASIC、Memories、LCD、电源管理、DRAM、信号集成电路和微控制器。875-957-01是围绕可扩展的模块化体系结构构建的,它具有处理高速和高复杂性多设备测试应用程序所需的灵活性。它很容易配置有VCD、PXI和ATE相关板等测试资源,加上ATE接口卡和软件组件来执行生产测试。该单元提供集成的设置、控制和调试功能,允许应用程序和正在测试的设备之间快速切换。TERADYNE 875-957-01配备了测试算法、测试执行和诊断例程,以及强大的模式生成功能,包括多种内存力和数据完整性控制功能,如交流和直流内存测试。它还具有一个板载的预先安装的测试配方库,可提供简单的设置、验证和诊断,以便利测试过程。该机还设有大型集成并行测试网格,允许多种测试配置设置,最多支持6个测试站点。875-957-01能够有效地执行大规模的WLBI级燃烧测试,提供了广泛的测试覆盖范围以及卓越的准确性和可重复性。这导致了尽可能高的产量。由于其开放的体系结构和基于Windows的GUI, TERADYNE 875-957-01可以轻松集成到现有的生产环境中,从而为各种组件提供全面而可靠的测试。875-957-01使用基于Windows的向导开发环境TERADYNE ICDi进行编程,该环境允许用户轻松创建、修改和存储测试程序。此外,它友好的GUI使用户能够轻松监控测试并实时查看测试结果,这样他们就不会错过任何测试缺陷。归根结底,TERADYNE 875-957-01最终测试工具是广泛半导体应用中高性能生产测试的完美解决方桉。其全面的测试功能、直观的用户界面和高度可配置的体系结构使其成为任何生产环境的宝贵工具。
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