二手 TERADYNE iFlex #9215606 待售

TERADYNE iFlex
製造商
TERADYNE
模型
iFlex
ID: 9215606
Tester RF Option Test head: Slot / Board name / Part no #2 / MWBoard-4 / 805-890-50 #3 / MWBoardAUX / 805-891-50 #4 / VHFAC / 805-245-50 #5 / DC-30 / 805-002-60 #6 / HSD-200 / 805-251-50 #7 / Support board / 805-003-50 #7.1 / DSP #0 / 810-503-00 #7.2 / DSP #1 / 810-503-00 #8 / HSD-200 / 805-251-50 #11 / VHFAC / 805-245-50 #20 / Support board / 805-003-11 #20.1 / DSP #1 / 810-503-00 #21 / HSD-200 / 805-251-50 Card cage: Slot / Board name / Part no #0 / MW Support board / 805-202-01 #0.1 / EFS6000 / 445 027 00 #0.2 / EFS6000 / 445-027-00 #0.3 / EFS6000 / 445 027 00 #0.4 / EFS6000 / 445-027-00 #1 / MWMSIFConv / 805-627-70 #2 / MWMS-Finalconv / 805-628-70.
TERADYNE iFlex是针对各种半导体封装和器件制造商的综合最终测试解决方桉。该设备模块化且可配置,最多可容纳6个并行测试板和32个总引脚。它利用其先进的TestCell技术实现高吞吐量和可重复性,并结合其传统的电路内测试(ICT)功能来支持参数测试、高引脚计数设备测试和灵活的板测试策略。TERADYNE I-FLEX专为快速测试时间和高产产量而设计。系统可以进行自动设备编程、多节点测试、动态晶圆或芯片测试映射。它的短周期可以实现并行测试,而复杂的诊断功能有助于组件故障分析。此外,温度控制的试件级可以控制测试点温度,以确保更可靠的结果和可重复性。为了加快和提高测试质量,iFlex的模拟测试功能实现了外围晶体管的表征。此外,它的快速示波器测量能力可以运行频率、电压、电流、功率等一系列参数测试。它还支持3D设备上的堆迭测量,以实现质量控制和可靠性保证。该单元带有直观的用户友好图形界面,可简化操作并增强调试过程。它包括测试参数、电路模型和测试指令的数据库,以及测试脚本库,以实现更快的测试设置。I-FLEX配备了高级测试工具,包括一个板载可编程电源,用于扩展测试灵活性,一个用于烧录测试的集成烤箱,以及一个用于交钥匙探针设置的操作员可选设备库。这台机器还配备了一个用于处理精细设备的上下运动控制工具,以及一个用于接收最新技术的现成光纤接口资产。该模型配备了一系列高端软件工具,用于完整的参数化和功能性测试覆盖,包括用于定制测试开发的内置基于模型的测试开发工具。它还支持支持高级光学和射频测试所需的虚拟资源。该设备还包括有助于快速查明设备故障点的强化诊断Suite™,以及用于模具级数据收集和演示的质量保证(QA)软件套件。
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