二手 TERADYNE iFlex #9258390 待售

TERADYNE iFlex是一个高性能、灵活的解决方桉，用于高元件电路的最终测试。它专为有机和合成多芯片模块、BGA和组件而设计,直至拖动0201。它提供了自动测试模式生成（ATPG）和结构化内置自测（SBIST）等测试方法,以达到当今市场的最高产量和质量标准。TERADYNE I-FLEX利用自己的专有体系结构iFlex Ultra Fast Detect （iF-UFD）来增强测试灵敏度并最大限度地减少测试时间。iF-UFD结合了模式生成、高速MUX控制和低压差分信令（LVDS）技术，在电噪声环境中检测细微的引脚状态。它还具有用于驱动、捕获和低视觉反馈测试信号的双列体系结构,以及用于优化测试信号的预处理练习算法,以及用于支持各种测试的特殊硬件功能测试体系结构。I-FLEX支持多种复杂的测试方法，包括参数化可测量、功能级测试、基于节点的桥接、多电阻网络、高级数学函数、etric多量规和图像识别。除了这些强大的测试策略，系统还具有直观的系统设计和操作。用户友好的操作和内置的启动功能使操作员能够快速查找并开始准备测试。TERADYNE iFlex用途广泛且经济实惠,允许对高复杂性部件进行大容量、低成本的测试和重新测试。它还提供各种配件以满足客户需求。此外,TERADYNE I-FLEX的测试支持功能使该仪器能够分析测试数据的趋势并确定过程缺陷的领域。这些功能有助于确保产品质量和符合行业标准。总之,IFlex是一种高性能、灵活的解决方桉,可用于有机和合成多芯片模块、BGA和组件的高组件电路的最终测试,直至0201拖动。它提供了多种测试方法,并具有直观的系统设计和操作功能,使其成为高容量、低成本测试和高复杂性部件重新测试的理想解决方桉。