二手 TERADYNE J750 ATE #9176350 待售

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製造商
TERADYNE
模型
J750 ATE
ID: 9176350
优质的: 1999
Tester (320) Channels (5) 64 Channel boards (1) 8 DPS Power ressources (1) 16 Channels RFID board Slot [sub slot] Type Idprom Type Rev Company -1 sli 239-624-00 c01d1d6 A 5445 0 Channel 239-001-03 80124e7 D 5445 1 Channel 239-001-04 8016280 D 5445 2 Channel 239-001-04 80107f8 D 5445 3 Channel 239-001-04 800eaab D 5445 4 Channel 239-001-04 800d61c D 5445 7 Rfid 239-025-99 304a292 D 5445 7.0 Rfidlower 239-024-00 2bb141 B 5445 7.1 Rfidupper 239-023-00 2bb12e B 5445 18 Cub 239-020-09 c01e1a1 H 5445 22 Dps 239-016-03 1fbe2a D 5445 1999 vintage.
TERADYNE J750 ATE是一种高性能自动测试设备解决方桉,旨在帮助满足当今最终测试过程的需求。该J750是一种高度先进的设备,能够执行极其复杂的测试,其功能集使其能够满足业界任何公司的感知需求。该J750提供了业界领先的快速测试执行、可靠的测试覆盖范围和低拥有成本的组合。它的高级多路复用功能、吞吐量容量和可编程性使您能够通过减少测试迭代和缩短测试周期来加快最终测试过程。这种速度和覆盖范围的组合显着降低了测试成本,使您能够获得最佳产量。该J750依赖于高级参数化测试,使用Pro-Vision高级测试解决方桉(PVATS)。PVATS弥合了高级功能测试和快速引脚诊断之间的差距。此测试解决方桉建立在备受推崇的Pro-Vision虚拟仪器(PVVI)体系结构上,该体系结构用于许多领先的ATE系统。PVVI体系结构提供卓越的系统性能、可靠性和可扩展性。J750的通用平台允许您轻松迁移到任何其他TERADYNE J产品系列。这允许无缝过渡,因为您可以很容易地用更新、更高级的设备(如J750或J850替换J950。这种灵活性允许您选择最符合特定测试要求的机器。该J750是一个非常复杂的测试解决方桉,可满足当今最终测试过程的需要。它提供卓越的速度和覆盖范围,并提供卓越的可扩展性和灵活性。通过PVATS软件和Pro-Vision虚拟仪器体系结构,您可以放心地执行复杂的测试。该J750执行速度快、测试覆盖范围广、维护成本低,是将最终测试过程的时间和成本降至最低的完美解决方桉。
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