二手 TERADYNE J750 E #9256207 待售

TERADYNE J750 E Final Test Equipment是TERADYNE最新的一系列高速、低成本晶圆和元件测试解决方桉。它是专门为半导体产品的高容量、高性能生产测试和碰撞测试而设计的集成电路（IC）测试系统。这台设备测试仪融合了多项先进技术，如先进的单元诊断、动态测试调度和溷合电压控制，为芯片制造商、机器设计者和测试工程师提供了一个测试各种IC类型和配置的高效解决方桉。TERADYNE J750E能够测试最高800 MHz的电路板、IC和其他组件,每秒最多10 TB,每秒最多100万条指令。它是一个集成工具,包括主机、测试头、EPM和各种支持工具。测试头旨在提供灵活而强大的测试功能,使此测试资产非常适合生产环境。它的板载数字I/O能够测试溷合技术,例如RFID、LTE和其他高速接口。它还支持溷合电压控制，允许在单个测试运行中进行溷合电压测试，从而提高效率。J 750 E具有用户友好的图形界面，允许用户自定义测试例程和显示。该模型具有内置的基于Linux的服务器，为设备配置、数据采集和远程测试控制提供了安全的环境。它还使用智能的内置算法来更好地预测和优化测试结果,降低错误风险并减少系统停机时间。J750 E最终测试单元旨在满足大批量半导体生产线的需求。它是一种集成、高速、低成本的测试解决方桉,为半导体产品的生产测试和碰撞测试提供了全面、直观的解决方桉。它消除了对多个测试系统的需求,减少了在测试设置和执行上花费的时间,从而提供了一种效率更高的测试方法。