二手 TERADYNE J750 E #9256208 待售

TERADYNE J750 E最终测试设备是当今市场上最先进、可靠、用户友好的测试平台之一。TERADYNE J750E是一种超高密度生产测试系统,旨在对当今最先进的半导体器件进行高效、经济高效的测试。由于其集成的prober功能和先进的硬件功能,它提供了临时测试解决方桉和经济高效的晶圆探测。J 750 E最终测试单元具有业界最高的大批量生产测试设备测试能力之一。它能够以每个通道30 MHz突发数据速率提供至少3000个测试通道（具有芯片组启用功能的附加通道）,具有40Gbps的数据流和1 μ s的响应时间。通过使用具有32个数据节点的高度并行化平台（每个数据节点都有其本地RAM存储库）,机器更有效地利用了可用性能,提供了大量并行性、功能可扩展性和高性能测试选项。此外,J750E测试工具包括集成并行软件工具,用于高效的设备调试和诊断。其中包括Visual DFT,用于高度可视化的面向用户的调试和实时的晶圆交互探测。还包括WLC设计自动化软件,用于从图形环境生成高级测试程序,并使用IQ Fusion平台自动创建WLC（广义语言编译器）。该平台还集成了量子验证器（QV），用于极快可靠的测试时间周期，采用嵌入式矢量利用（EVU）技术。QV确保了新产品的快速上市时间,同时提供了完全自动化和免提的测试解决方桉。此外，资产还得到资产管理的支持，资产管理可以可靠地跟踪和监测制造的晶片，并根据需要进行重新测试。这有助于确保不会出现丢失或错误的测试。最后,J750 E最终测试模型的开放式体系结构设计和高密度的"可切换"多测试板为不同的封装类型和端口配置提供了灵活性,因此扩展的成本效益更高。TERADYNE J 750 E最终测试设备是用于测试当今最先进半导体器件的强大而可靠的解决方桉。通过其集成的功能（如Visual DFT、WLC Design Automation Software、IQ Fusion、Quantum Verifier和资产管理）,此简化的测试系统可确保最大效率和成本效益。