二手 TERADYNE J750 EX-HD #293822865 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 293822865
Teater
(4) HSD800 boards
(64) Pins
(24) Slots
HDDPS48 Power supply module
Slot (subslot) / Type / idprom (type rev company)
-1 / Sli / 239-624-00 1251-A 5445
0 / Channel / 615-988-01 2122-A 5445
0.0 / Cbmain / 615-793-02 2122-A 5445
0.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
0.2 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
0.3 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
1 / Channel / 615-988-01 2122-A 5445
1.0 / Cbmain / 615-793-02 2122-A 5445
1.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
1.2 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
1.3 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
2 / Channel / 615-988-01 2122-A 5445
2.0 / Cbmain / 615-793-02 2122-A 5445
2.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
2.2 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
2.3 / Dsmto / 614-889-01 1241-A 5445
3 / Channel / 615-988-01 2122-A 5445
3.0 / Cbmain / 615-793-02 2122-A 5445
3.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
3.2 / Dsmto / 614-889-01 1739-A 5445
3.3 / Dsmto / 614-889-01 1739-A 5445
4 / Hddps48 / 517-471-05 2034-A 5445
17 / Hdctc / 616-451-02 2237-A 5445
17.0 / Hcctomain / 615-101-01 2216-A 5445
18 / Cub / 621-917-03 2015-A 5445
22 / Hddps24 / 517-470-04 2045-A 5445
23 / Hddps24 / 517-470-04 2045-A 5445.
TERADYNE J750 EX-HD是一种高度通用、高密度的最终测试设备,旨在满足各种大容量半导体和电子制造环境的苛刻需求。TERADYNE J750EX-HD采用双串联内存模块（DIMM）插槽配置,最多可同时测试8个任何类型的DIMM,最多可扩展到8个独立测试通道,而不能满足当今加速测试的要求。高速逻辑、体系结构功能和增强测试工具的组合提供了一流的吞吐量,使客户能够比以往任何时候都更早地缩短测试速度。该系统还具有先进的信息采集体系结构，旨在减少周转时间并优化生产流程。有了直观的用户界面，专业用户和非专业用户都可以通过点击一个按钮，快速压缩测试结果和调查数据。此外,自动化功能（如测试排序、缺陷分析和测试/单元数据库）使用户能够快速最大化生产吞吐量。该机还配备了全面的电源和诊断，以确保准确、精确的测试执行，而可选的CCD传感器则为3D封装设备提供了最佳的测试覆盖范围。包括GMS、内存、边界扫描、TDR、差分逻辑和逻辑分析器在内的多种测试模块可增强对多种设备类型的测试覆盖。J 750 EX HD还设计用于处理最新的晶圆级封装测试。改进后的数字工具接口能够进行外部数据控制、自动转换和程序操作以及灵活的数据流管理，提供更高的测试产量和提高的设备性能。TERADYNE J 750 EX HD满足极端环境条件下最严格的测试要求，包括极端温度状态、极端震动和振动以及极端功耗。其高度可靠的设计降低了与不合格的测试性能相关的初始和生命周期成本,并确保了一致的结果,而与测试环境无关。总体而言,J750 EX-HD是满足复杂且要求苛刻的半导体测试要求的理想解决方桉,可提供最大吞吐量、卓越性能和更高的测试覆盖范围。
还没有评论