二手 TERADYNE J750 EX #9272874 待售

TERADYNE J750 EX是下一代最终测试设备,旨在提供动态晶圆级测试的卓越精度、性能和可扩展性。TERADYNE J750EX结合了高级自动化和测试功能,使测试过程能够以最少的人工干预完成。J 750 EX平台旨在为半导体封装测试系统提供最佳的外壳。利用先进的实时控制器和开放式设计体系结构,能够独立执行测试执行、作业控制和探针卡选择,从而提高了用户配置的测试套件的测试覆盖率。该系统是一个集成的晶圆级测试解决方桉,它利用最新的测试方法（如逻辑矢量和电路内测试）来满足移动设备和高性能设备的挑战性需求。J750EX提供了从最简单到最先进的微处理器的各种应用的准确测试结果。该单元能够执行从简单内存测试到复杂设备表征和产生分析功能的测试应用。它支持最新的数字和模拟接口标准,以及广泛的材料和设备包。先进的配置机器简化了对多种测试配置的集成,这些配置具有不同的销数和灵活性要求。高效的工具高效冷却体系结构减少了测试时间和能源成本。TERADYNE J 750 EX具有自适应测试控制资产，可监控温度、湿度等基于条件的参数以及其他环境参数，以确保测试的准确性和可重复性。特殊的接口允许直接控制复杂的应用程序开发工具,并且可以与外部设备（如自动晶圆处理器和企业或工厂网络）连接。该型号每天可测试超过900万台设备,每个测试设备提供约400个测试站点和300个测试资源。J750 EX旨在显着提高测试吞吐量、准确性和产量。该系统是为满足现代工程团队的需求而开发的,它提供了更高的集成、灵活性、可扩展性和生产率级别。凭借其先进的自动化和测试功能,TERADYNE J750 EX可以显着节省成本并提高产品质量。