二手 TERADYNE J750 #9179290 待售

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TERADYNE J750
已售出
製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9179290
优质的: 2004
Tester (4) Channel boards: 16M (4) HSD 100 (239-026-03 .16 Meg LVM) 256 Channel with 239-236-00 With 16 M LVM DPS Board MTO CTO Engineering cart Work station: W6200 Manipulator intent Computer: XW 6000 #slot[.subslot] Type idprom -1 sli 239-624-00 0 channel 239-026-03 1 channel 239-026-03 4 channel 239-026-03 5 channel 239-026-03 17 cto 239-029-02 18 cub 239-020-06 22 dps 239-016-03 2004 vintage.
TERADYNE J750是用于生产和燃烧过程的下一代最终测试设备,可确保复杂电子设备的高质量结果。TERADYNE J 750具有四个测试模块,可以自动执行单个或复杂的功能,以减少错误并提高产品质量。J750的集成测试体系结构允许它同时测量和评估各种各样的测试功能。该系统每个模块最多可测量4800个电极,设计用于各种设备类型和应用。四个测试模块集成了高速内存和逻辑测试、单元内测试以及设备引脚、网子、键和引脚的综合测试。四模块配置允许在生产线中轻松部署,并且可以为专用应用程序定制机器。J 750具有集成电路(IC)处理程序管理功能,可实现测试数据采集、评估和传输的自动化。IC处理程序管理模块提供了控制测试过程的强大工具,包括访问IC处理程序日志、IC处理程序队列管理、调度和IC处理程序管理。IC Handler管理还有助于减少测试时间,并且可以与其他TERADYNE测试模块集成,以提供完整的测试解决方桉。TERADYNE J750通过其可编程逻辑设计(PLD)调试功能提供增强的调试功能。PLD调试功能提供了最多可显示16个设备的图形环境。图形环境允许用户快速轻松地排除PLD设计故障。它还能够一致地测量和报告多个设备的设备参数,以便进一步调试。TERADYNE J 750还提供先进的测试覆盖范围,有助于减少测试时间和改善质量控制。J750能够对每个工具进行65万多次并发测试,为各种电子设备提供详细的测试范围。凭借高速探针卡,J 750最大化测试精度和吞吐量。TERADYNE J750是下一代高性能测试解决方桉,可提供高效、可靠的测试和改进的产品质量。TERADYNE J 750具有四个测试模块和集成电路处理程序管理功能,可提供高度的灵活性,确保最大程度的测试覆盖范围和准确性,同时降低成本并改善质量控制。
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