二手 TERADYNE J750 #9228119 待售

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製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9228119
Tester Testhead frame: 512 Frame 16M LVM 100 MHz (8) Channel cards (4) DPS CTO Cal cub Workstation: XW6000 Manipulator: YAC.
TERADYNE J750是一种先进、自动化和高效的最终测试设备,能够测试各种产品,从微控制器和内存组件到数字显示器和高速逻辑。TERADYNE J 750旨在提供高吞吐量、快速周期时间和低测试成本,从而能够对各种电子设备进行经济高效的测试。它也非常灵活,允许测试客户轻松添加和删除其特定设备的测试。该系统能够在很短的时间内进行功能测试、数字功能测试、参数测量、模拟功能测试、互连测试和故障隔离。J750具有可靠的平台,可减少停机时间并提高当今大容量环境的吞吐量。它的分布式计算体系结构允许使用其他测试模块进行扩展,从而最大限度地提高吞吐量并响应用户要求的时间。该设备的可扩展性还允许客户从满足其测试需求和预算限制的配置数量中进行选择。J 750将当今自动化测试系统的先进技术和模块化与交互式、用户友好的测试编程和用户界面相结合。系统硬件和软件采用标准测试编程语言设计 (STPL)和标准交互式调试语言(SIDL),允许对不同类型的设备进行快速、轻松的自动化测试,为新的和现有的测试要求创造灵活、经济的环境,确保客户从应用程序和成本角度充分利用测试机器。TERADYNE J750还提供了广泛的故障隔离和调试工具,使用户能够更快地识别和修复潜在的故障。这些调试功能包括完全探针连接、全面的比特模式可视化、复杂的故障隔离算法和详细的功能故障排除功能。该工具还提供了增强的自动化软件包,并允许用户使用集中的脚本和最大限度地提高资产利用率,与一名测试工程师一起无缝管理数百个DUT。此软件包还包括TOP Fail Feature,它是一个功能强大的功能跟踪模型,可总结测试结果,提高设备的吞吐量和生产率。TERADYNE J 750使集成电路测试变得简单,并提供经济高效的溷合技术测试。该系统轻松地连接到其他TERADYNE系统或第三方电路内测试仪,使客户能够在同一平台上无缝测试刚性、柔性和BGA板。它还支持以最小数量的专用引脚探测测试大型板。总体而言,J750是一个功能强大、用途广泛且可靠的最终测试单元,旨在为当今复杂的测试环境提供可靠且经济高效的解决方桉。它结合了先进的技术、灵活的可扩展性和直观的软件,为各种产品提供快速高效的测试。该机器非常适合大容量测试环境和需要可靠且面向未来的测试解决方桉的客户。
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