二手 TERADYNE J750 #9231470 待售
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ID: 9231470
Tester
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
512 Channels
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels.
TERADYNE J750是一种先进的最终测试设备,用于各种行业和应用。该系统旨在提供复杂集成电路的全面测试,包括高速数字和溷合信号设计。TERADYNE J 750具有高性能架构,其中包括多个强大的子系统连接在一起,提供无与伦比的测试覆盖范围和性能。该单元利用先进的分析算法,能够对设备进行准确和高效的测试。这台机器的设计是为了随着设备设计的发展动态调整其测试范围和测试方法。该工具还拥有多种用户可编程测试仪器,包括集成边界扫描控制器、模拟测量单元、数字测试界面以及其他专用控制器和测试附件。J750设计用于批量和缺陷分析测试模式,可配置为适合多种设备类型。资产可与一系列网络环境以及数据采集和分析系统集成,包括基于团队的开发工具。此功能使用户能够开发自动化的测试过程并缩短测试时间。该模型采用多种扫描技术,包括ICT、FCT、边界扫描、CTL和SDCL。J 750还提供了多种高级编程工具,包括Software Emulators和VASIMO。这些工具用于创建和调试测试、开发自定义设备驱动程序、测试高速总线以及分析设备性能。总体而言,TERADYNE J750是一个功能强大的系统,能够对复杂的集成电路进行可靠、准确的测试。通过使用各种不同的硬件和软件工具,用户可以快速高效地生成针对其特定产品需求量身定制的测试。
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