二手 TERADYNE J750 #9231472 待售
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ID: 9231472
Tester
512 Channels
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels.
TERADYNE J750是一种最终测试设备,用于测试和检查各种集成电路(IC)设备,从大到很小不等。它能够以其较大的测试区域测试多个设备,同时仍然保持尺寸紧凑。该系统采用多种集成技术,为客户提供最佳测试结果。TERADYNE J 750集成了多个测试站点、高级VisionPro编程软件和高速激光编码系统的组合。这些组件允许更快的测试时间和更高质量的诊断。集成数字信号处理(DSP)还提供了高级触发、数据捕获和分析功能。J750还具有一些旨在提高单位精度和产量的功能。它带有一个自动测试程序生成机器,简化了编程过程。这个计算机生成的测试套件包含优化的测试矢量和条件,有助于产生更高的诊断准确性并提高产量。此外,该工具还具有电路内和内置的自检功能,可以在释放设备以供使用之前检测到任何错误。J 750还支持多种测试策略,如参数化、功能性和长效。它还可以同时提供晶圆和封装设备测试策略。其先进的编程软件使与测试程序设备的接口变得容易,并根据需要定制测试策略。TERADYNE J750还具有获得专利的Sweep Diagnostics算法,该算法可以快速分析测试结果,帮助缩短测试时间并提高产量。此外,此资产还提供了许多节能功能。其先进的冷却模式允许更高的空间效率和降低功耗。风扇是智能的,具有多种速度设置,可确保冷却设备在闲置时不会过度消耗宝贵的电源。总体而言,TERADYNE J 750是一种出色的解决方桉,可用于各种IC设备的最终测试和检查。它提供集成技术、高级编程软件和节能功能的组合,为用户提供尽可能高质量的测试结果。凭借其集成的测试站点、数字信号处理和测试程序生成,J750是一个功能强大且可靠的系统,可以帮助任何IC设备制造商节省时间、能源和金钱。
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