二手 TERADYNE J750 #9231473 待售

TERADYNE J750 Final Test Equipment是一种经济高效、高通量、多站点的测试系统,旨在测试集成电路（IC）。它利用数字信号处理（DSP）和闪存技术,在生产环境中对多个IC进行快速、准确的测试。它非常适合测试高密度、大容量的测试应用,如便携式消费电子、汽车、电信和存储设备。TERADYNE J 750利用先进的控制技术,在多个设备上同时自动执行两种类型的测试-结构测试和参数测试。结构测试是一种复杂的方法，用于分析设备的物理结构和检测潜在的制造缺陷。J750使用实时成像检测IC中的结构缺陷。参数测试测量设备的电气特性并验证其是否符合设备规范。这类测试对于像微处理器、内存和应用特定集成电路（ASIC）这样的高性能电子元件特别有用。J 750在并行路径上运行,以200 MHz的频率同时测试多个设备,从而将测试时间和成本降低了50%。每个测试路径彼此隔离，使引脚可以独立并行测试。该单元为高密度应用程序提供了多种体系结构选项,每个探针卡每个站点的探针间距可降至40密耳和500针。它还使用基于视觉的自动对准机提供主板级故障排除和修复。该工具提供微观成像来定位和隔离组件缺陷。资产的灵活性允许多种测试模式，包括高压、大电流和溷合信号测试。它具有功能强大的软件套件,包括主动工具和诊断工具。该软件套件允许用户快速设置TERADYNE J750来测试设备，同时协助分析测试结果。该软件还支持多种平台设计。TERADYNE J 750可靠且易于维护,并且需要最少的用户设置。其紧凑的设计占用很少的地板空间,使其能够轻松适应任何生产环境,而其高吞吐量的能力则大大减少了测试时间和成本。