二手 TERADYNE J750 #9240602 待售

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製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9240602
Tester Test head type: 512 Pin test head Configuration: Channel board (P/N: 239-026-00) Channel board (P/N: 239-026-03) CUB (P/N: 239-020-06) CTO (P/N: 239-029-00) DPS (P/N: 239-016-03) Includes: HEWLETT-PACKARD Z800 PC Workstation BASLER ELECTRIC Isolation transformer (P/N: 9325500100) ESMO Ikarus Standard universal test head manipulator (P/N: 2310.00.97.0001) Missing EMI Dust cover Does not include: Calibration DIB Diagnostic DIB.
TERADYNE J750是一个最终测试设备,它是一个功能强大、高速、多站点、自动化的测试设备系统,用于测试各种电子产品。该单元可以在单个测试帧中处理多达128个测试站点,并且可以支持从芯片到板架原型到大容量、高针数产品的各种设备。它是一种可扩展、灵活且经济高效的解决方桉,可解决各种测试难题和环境。TERADYNE J 750旨在容纳各种接口和接口类型的组合,使其能够量身定制以满足单独的测试要求。该机器支持并有效地处理各种测试程序,包括参数化和功能性测试、内存测试、统计分析、设备表征等等。高速数据传输和同时测试执行通过其创新的板载处理器技术得以实现。J750还提供了一整套软件支持工具,方便了从手动测试到自动测试的轻松过渡。设备设置和编程应用程序提供直观的图形界面,使测试工程师能够快速创建、验证和调试设备配置设置以及测试程序。这一系列特性和功能使您能够快速、准确地提高设备测试项目的效率。该工具还提供了一系列可扩展的组件,如主板级诊断、温度室、源测量单元、电源以及可轻松集成到资产体系结构中的RF探测解决方桉。此外,它与众多竞争性和非竞争性测试子系统兼容,确保与现有测试系统的无缝集成。该模型的灵活性允许进行多站点、平面图优化,并通过不同测试站点的"溷合匹配"提高密度使用率。总体而言,J 750 Final Test Equipment是一款功能强大且用途广泛的测试解决方桉,具有开放的体系结构和广泛的可自定义选项。其创新技术和先进的软件工具可帮助您实现更高的生产效率和显着降低的总测试成本。TERADYNE J750提供了可扩展性、可扩展性、兼容性、灵活性和最佳的成本效益,使其成为任何复杂测试环境中质量保证的理想选择。
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