二手 TERADYNE J750 #9315889 待售

TERADYNE J750是一种最终测试设备,旨在为高复杂性设计和设备/连接应用程序提供经济高效且可扩展的测试解决方桉。该系统提供模拟、数字、MEMS、射频和光学测试技术的优化组合，以及大容量的电路测试，为所有测试应用提供终极覆盖。TERADYNE J 750最终测试单元由一套广泛的应用软件和设计工具支持,使机器能够与客户现有的测试环境和现有的测试设备接口。该工具的核心是高速控制器,每秒可提供高达32吉加的样品（Gsps）,同时可处理多达1,024个针脚和16个非针脚I/O通道,从而获得卓越的性能和较低的开销。J750还具有针对模拟、数字、MEMS和RF测试通道的复杂的内部自动测试模式生成（ATPG）算法,从而可以实现最大的测试覆盖范围。动态但高效的测试模式还允许低功耗测试环境,使J 750成为耗电应用的理想选择。机载智能内存和以太网连接提供了与竞争解决方桉相比的另一个优势,使客户能够将其现有的测试程序与易于管理的软件库集成在一起。此外,TERADYNE J750具有内置波形发生器,能够在模拟和数字领域中生成多达20种不同的波形,从而能够更快、更全面地进行调试和生产测试。TERADYNE J 750还具有先进的故障盖分析（FCA）功能,具有自动故障映射和串扰/偏斜检测功能,可帮助分析复杂的设计故障。故障隔离应力测试（FIST）功能还提高了测试结果的可靠性,减少了错误故障、故障查找和探测引起的故障。此外,J750还利用了获得专利的"环路"测试体系结构,该体系结构能够快速有效地对多通道设备进行高级测试。最后,J 750 R750是一种全面、经济高效且可靠的最终测试模型,专为IoT/连接应用程序和复杂的设备设计而设计。功能包括自动化ATPG、智能内存、多种波形发生器、FCA功能、FIST、环路测试和高级测试软件,允许集成测试开发和与现有测试环境的平稳集成。