二手 TERADYNE J973 #9176661 待售

製造商
TERADYNE
模型
J973
ID: 9176661
晶圆大小: 8"-12"
优质的: 1998
Tester, 8"-12" Process application: Wafer sort Copper process Batch / Single wafer: 25" Features 512 Channels AP 512 Channels wide ADS fancut (200 MHz) (2) 50 A GVS 64M LVM 128 Channels of 256K VMO 200 MHz MTO (48) 128M SPO CE Marked 1998 vintage.
TERADYNE J973是一种高度先进的通用最终测试设备,旨在解决当今消费电子产品的复杂性和多样性问题。这个广受推崇的系统结合了高性能的多个测试通道和领先的数据管理功能。该设备的多达14个通道的测试体系结构为各种IC和其他组件提供了最大的测试覆盖范围和灵活性。它在某些DIP、LCC、SO、封装和连接器中支持顶部和底部电气测试。这种先进的模具级测试机设计用于有用的设备和刀具刻录和测试。可靠的烧录技术和快速测试解决方桉可节省时间和成本。TERADYNE J-973是一种基于FPGA的模块化测试资产,使用户能够开发更高的速度和更准确的测试。它采用数字信号处理(DSP)卡,通过自动测试模式生成、线性和精度测试等方式增强模型。该设备还具有强大的软件包,可用于快速生成测试、进行准确的诊断以及更快地做出产品开发决策。系统中包含的功能强大的诊断工具允许进行复杂的测试和详细的产品故障分析。高级数据存储和报告功能使用户能够从多个运行中收集和分析完整的测试数据,从而进一步增强了此功能。该软件包包括一个可远程编程的测试头、各种各样的测试夹具以及一台提供一整套软件工具的PC。该单元提供了测试精度和可靠性的极致。板级测试程序在不同的装配级别以及组件级别的多个测试中提供了广泛的测试。它独有的DC测试功能可以评估从主板到组件级别的关键组件的性能。J 973是一款功能极为强大的测试机器,能够为各类消费电子产品提供快速准确的测试结果。其高度灵活的测试体系结构和强大的诊断工具使其成为生产和开发环境的理想选择。其复杂的数据存储和报告功能使其非常适合进行完整的测试和故障分析。
还没有评论