二手 TERADYNE MicroFlex #9217592 待售

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製造商
TERADYNE
模型
MicroFlex
ID: 9217592
Tester Test head configuration: (7) 805-003-50 Support boards-0 (20) 939-270-00 Support boards-USM (13) 805-004-50 BBAC (4) 805-002-60 DC-30 (10) 805-002-60 DC-30 (1) 805-005-50 DC-75 (6) 805-005-50 DC-75 (2) 805-229-50 DC-90 (5) 805-229-50 DC-90 (9) 805-229-50 DC-90 (12) 805-229-50 DC-90 (3) 805-251-50 HSD-200 (11) 805-251-50 HSD-200 (8) 805-740-50 HVD-1.
TERADYNE MicroFlex是一种高度先进的高速最终测试设备,用于制造和测试复杂的电子产品。该系统支持多种测试应用,包括电路内测试(ICT)、边界扫描、晶体管测试和调试跟踪。MicroFlex是一个灵活的解决方桉,适用于从小型数字集成电路(IC)到高引脚计数封装的各种设备,并提供卓越的电气性能、灵活性、可靠性和经济性。TERADYNE MicroFlex使用两个主要组件-测试单元控制器和处理程序。控制器包括功能强大的矢量处理器、基于矢量处理器的高级电路、触发器生成/捕获功能以及高速数据捕获机。控制器还包含用于测试例程执行、调试例程和其他功能的高级软件包。处理程序包含必要的探针、探针卡和手动/接触接口,以保护和安装正在测试的设备,以及在测试工具控制器之间传输数据。MicroFlex支持多种测试选项,允许制造商最大限度地提高产量、质量和周期时间。它还提供高达250MHz的高速测试数据捕获和捕获速率,从而可以更轻松地检测间歇性缺陷信号。此外,它的多轴、多通道体系结构允许对具有多信号的板和组件进行更快的测试。TERADYNE MicroFlex非常灵活,提供多种电气参数和模拟/数字选项。它最多可支持2,500个测试引脚,为各种产品提供广泛的测试功能。该资产还能够简化多门集成ASIC的测试,帮助提高产量、测试时间和生产控制。MicroFlex配备了广泛的应用软件工具,如Cupholder、BSDL、ATE Interactors、VIA Adapters、FPGA编程等,使不同项目的高度定制测试成为可能。由于其实时功能,该模型可以轻松集成到可追踪性系统或闭环制造过程中。TERADYNE MicroFlex拥有完善的设备运行和较高的吞吐量速度,是自动化和手动测试程序的理想解决方桉。
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