二手 TERADYNE MicroFlex #9363434 待售

製造商
TERADYNE
模型
MicroFlex
ID: 9363434
优质的: 2006
Tester (6) HSD200 DC-30 (2) DC-75 2006 vintage.
TERADYNE MicroFlex是为各种电子设备设计的最终测试设备,从内存和微控制器到高速ASIC,以及数字、模拟和溷合信号IC。它在单个平台上提供可扩展的测试覆盖范围,适用于生产和工程用途。MicroFlex系统附带了全方位的硬件、软件和服务,以方便测试过程。强大的操作单元可通过高级测试视图(ATV)促进高效的测试开发和管理,这是一个图形用户界面,可简化测试程序的集成和自动化。可用测试软件库包括测试程序生成器、诊断工具和模拟软件,这些软件设计为与机器的硬件无缝配合使用。对于IC的测试覆盖范围,该工具提供了一系列特定于应用程序的高速测试功能。它可用于多种应用,包括参数化测试、设备ID、板编程和资产测试。这些测试是通过使用高速数字I/O (DIO)或数字矢量处理器(DVP)技术实现的,后者能够以高达4 GHz的速度进行通道级测试。该模型提供了一系列的功率和温度选项,以适应传统和先进的半导体工艺。还支持VCLK、IDDQ、VDDQ或LDO控制等电源控制算法,以确保准确性,提高设备运行的概率。除了自动测试和编程(ATP)功能外,TERADYNE MicroFlex设备还具有一套强大的电路内测试(ICT)工具,可提供对IC和电路板的无损测试。这些工具包括FeedFlex,一种内置的微中断技术,可以防止测试执行期间对设备的永久损坏,DFX(Design for testability),以及用于快速原型设计的FPGAdb(flash programming and debugging)工具。MicroFlex Final Test System凭借其强大、灵活和集成的体系结构,为任何测试要求提供了理想的解决方桉,从而提高了测试覆盖率、缩短了产品上市时间并提高了产品质量。
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