二手 TERADYNE Z 1880 #293818770 待售

TERADYNE Z 1880是用于各种高密度、高速应用的高级最终测试设备。它是测试电子控制单元（ECU）、半导体晶片芯片组、MEMS和成像传感器的一流制造分类。它提供同类产品中最高的同时测试密度和各种特殊模块选项,例如温度控制和降压/升压电压设置。凭借其通用的体系结构,还可以针对特定需求和大型生产运行进行配置。TERADYNE Z1880与各种行业标准探针兼容,并利用模块化设计来适应各种测试参数。大型机由紧密集成的测试头和接口电子设备组成,可随时使用、高可扩展性和易于维护。该系统能够以高达7.5MHz的速度并行测试多达32个设备,并支持多达128个设备。可以配置各种测试参数以优化测试过程,以达到最大吞吐量或最高测试精度。Z 1880提供了几种配备了探针的综合选项和功能丰富的功能,例如Open Grid Architecture （OGA）。这使设备可以跨多个测试头配置测试结构,并将各个信号解析到虚拟测试通道中。它还提供高速排序，可用于快速检测和拒绝故障设备。该机器还支持多级矩阵测试，以延长温度和供应范围，使其能够检测到产品内非常低的故障率。Z1880的其他功能包括数据记录、设备表征、晶圆级测试、数字成像和3D可视探针定位。它由TERADYNE软件套件控制，可以与多种软件语言一起使用，如LabVIEW、Visual Basic和C++。TERADYNE Z 1880是测试各种高速高密度应用的绝佳选择。它的多功能性、可扩展性和丰富的特性使其成为寻求经济高效但可靠且功能强大的测试解决方桉的制造操作的绝佳选择。