二手 TERADYNE Z18XX #9249886 待售
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TERADYNE Z18XX Final Test设备是一种全自动测试解决方桉,专为集成电路或IC的测试和检查而设计。它专为高性能最终测试而设计,为用户提供高通量、高精度的解决方桉,以满足他们所有的IC测试需求。TERADYNE Z 18XX具有一系列专门为IC测试设计的功能。为IC测试设计和校准的高精度测试探针用于测量和报告IC的确切特性。快速、可靠的Autoprobe激光引导自动测试处理程序允许用户快速、轻松地探测IC,而无需手动干预。该系统能够同时测试多达8个IC,测试速度高达8 MHz,并且由于精心设计的布局(位于本地化的版面)而延迟较低。测试速度通过单元的同步时钟实现,并通过高速激光运动检测实现。测试程序是在Z18XX的编程环境内创建的,允许用户开发和编写自己定制的具有复杂指令集、循环和其他复杂编程功能的IC测试程序。这些程序可用于创建全面的功能和定时测试,从而能够检测到各种缺陷,包括掩码缺陷。Z 18XX还具有高级修复和重新测试功能,使用户能够轻松修复缺陷并再次进行测试。其他功能如实时显示和数据记录、imageMap技术和自动缺陷映射允许用户优化性能、提高测试吞吐量和减少整体测试时间。总体而言,TERADYNE Z18XX Final Test machine是一种可靠、高效且功能强大的IC测试解决方桉,可为用户提供快速、准确的结果。它提供了一系列专门为IC测试设计的功能,允许用户轻松创建定制的测试程序并利用高级修复和重新测试功能。它是满足任何IC测试和检查需求的强大、可靠和有效的解决方桉。
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