二手 KLA / TENCOR SP1 300DFF1P #9250789 待售

KLA/TENCOR SP1 300DFF1P是一种自动化的计量处理程序,针对晶圆级检查和表面质量测量进行了优化,允许测量和分析各种不同的表面和缺陷类型。该处理器凭借其创新的DFF1多功能设备提供了更高的准确性、可重复性和吞吐量。该系统具有集成的光场平坦度测量单元,可确保对许多IC晶片典型的远距离表面变化进行可重复、瞬时、单点测量。KLA SP1 300DFF1P处理器能够满足大多数晶圆尺寸和平坦度测量要求,非常适合现代半导体生产线工艺。该处理程序为每个计量任务提供精确和可重复的定位,并具有用于实时数据分析的小而精确的测量视图。该单元的设计具有先进的基于计算机的视觉功能，可进行非接触式、高质量的视觉检查，以及高达30倍的表面分析和缺陷检测过程的速度。此外，控制器还具有嵌入式算法，能够改进数据分析、快速晶圆搜索以及跟踪单个模具图像的能力。TENCOR SP1 300DFF1P处理程序能够容纳各种示例和IC包。处理程序可以支持多种测试样本类型，包括晶圆、平板、PROM设备、PCB和其他常用于计量的样本。为确保精度和准确性,300DFF1P包括一个高度精确的72点非线性标志图,可以根据不同的IC类型和过程进行调整。此外,KLA还在其SP1 300DFF1P处理程序中加入了一些高级功能,以提高整体性能。其中包括一个先进的缺陷检测库、通过粒子分析和微观轮廓自动表征功能、气垫支撑以及自动晶圆平坦度计算机。此外,该300DFF1P集成了强大的检测和软件套件,允许对光学相干断层扫描（OCT）和基于图像的表面特征进行额外的表征和分析。KLA/TENCOR SP1 300DFF1P处理程序是一种高效且高度可重复的计量工具,专门用于测量各种材料和组件的表面质量。此外,它的高级特性和功能不仅提高了生产效率,而且还允许快速和准确的数据处理。对于那些希望在半导体过程中提高准确性和可靠性的人来说，该资产是一个理想的解决方桉。