二手 FEI DualBeam 620 #293795397 待售

FEI DualBeam 620是在半导体制造、材料科学和微电子学领域为高分辨率成像和分析能力而设计的精密离子铣削设备。它结合了扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）系统的功能，提供卓越的成像分辨率和精确的材料去除能力。DualBeam 620单元的核心是一个高性能场发射电子源，产生一个聚焦电子束，用于成像和分析样品表面。这种电子束提供高分辨率成像能力，使研究人员能够在纳米级可视化和分析材料的微观结构。这台机器还配备了高灵敏度检测工具，能够以卓越的清晰度和对比度捕捉图像，从而能够详细描述材料特性。除了SEM功能外,FEI DualBeam 620资产还配备了高能聚焦离子束,可以精确定向,通过称为离子铣削的过程从样品表面去除材料。离子束典型地是由氙离子组成，可以精细聚焦，以纳米级精度去除材料。这种从样品中选择性去除材料的能力使研究人员能够准备样品进行分析，进行横截面成像，并以高精度制造纳米结构。DualBeam 620模型的主要特点之一是其强大的自动化功能,它简化了工作流程,并实现了高效的样本准备和分析。设备配备了先进的软件，允许用户定义复杂的铣削模式，自动化样品导航，优化成像和铣削参数，以达到最大效率。此自动化功能可加快示例处理时间,并提高系统的整体生产率。FEI DualBeam 620单元还具有一系列高级分析功能,可增强其在广泛应用中的实用性。该机配备能量色散X射线光谱（EDS）探测器，能够以高灵敏度和空间分辨率分析样品的元素组成。这使研究人员能够在原子层面上进行元素映射、识别化学相和表征材料。再者，DualBeam 620工具与各种样本架和附件兼容，允许使用者分析不同大小、形状和组成的样本。该资产既可容纳导电样品，也可容纳非导电样品，并为样品处理、涂层和制备提供了一系列选择。这种多功能性使得该模型非常适合材料科学、纳米技术和半导体制造领域的广泛研究应用。综上所述,FEI DualBeam 620是一种最先进的离子铣削设备,为各领域的研发提供先进的成像、分析和材料去除能力。它结合了SEM和FIB的功能、自动化特性和分析工具，使其成为在纳米科学和半导体行业表征材料、制造纳米结构以及进行高级研究的强大工具。