二手 FEI DualBeam 835 #293594852 待售

FEI DualBeam 835
ID: 293594852
Scanning Electron Microscope (SEM) SFEG Electron column Magnum ion column CDEM Detector TLD Detector ETD Detector Platinum GIS Carbon GIS Chiller Oil free turbo pumps Pre-vacuum pump.
FEI DualBeam 835是一款先进的离子铣削设备,提供独特的纳米级表面分析功能。这台多功能仪器集成了FIB(聚焦离子束)系统和SEM(扫描电子显微镜)柱,实现了精密的表面修改、高分辨率成像和详细的元素分析。DualBeam 835的FIB分量能够进行溅射蚀刻、沉积和电子束光刻。这些功能使操作员能够以纳米精度研磨和成形材料,同时深入了解纳米级的材料特性和微观结构。集成的SEM组件使操作员能够以高达5 nm的横向分辨率对铣削曲面进行成像,并执行其他特性,例如化学和电气测量。FEI DualBeam 835具有高压室,样品室压力为10-6 Torr,可见激光对准,用于精确样品定位,双作用气体喷射单元,用于精确气体控制。其先进的源控制机允许精确调整光束的能量以及离子束直径和电流设置。这些功能加上强大的软件包,为用户提供了广泛的离子铣削应用程序的详细控制和灵活性。DualBeam 835是需要先进离子铣削能力和纳米级材料详细表征的研究人员、制造商和工程师的理想选择。利用集成的FIB和SEM组件,该仪器能够以最少的时间和精力为用户提供可靠且可重复的结果。
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