二手 FEI DualBeam 835 #293606223 待售
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ID: 293606223
Scanning Electron Microscope (SEM)
Peripherals / Accessories:
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Keyboard
Mouse.
FEI DualBeam 835是一款高性能的离子铣削设备，专为广泛的材料表征和纳米加工应用而设计。该系统结合了扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）技术，实现了精确成像和纳米加工。该部队装备了高分辨率FEI肖特基野战发射炮。该枪具有高分辨率成像和近光光斑尺寸的最佳性能。相位对比度成像还包括一个低能反向散射探测器。在纳米加工方面，DualBeam 835配备了一台氙聚焦离子束（FIB）机。该工具的设计允许对材料进行精确和精确的铣削，以便观察纳米尺度特征和扩大材料表征的能力。该资产与各种离子种类兼容，允许用户根据材料和应用选择正确的束类型。光束电流可从10 pA调到300 nA。FEI DualBeam 835提供先进的样品处理，包括高真空级、两个2轴样品级和两个最多容纳两个样品的空腔，最大限度地提高样品吞吐量，减少设置时间。SEM和FIB的交换时间以及样品变化时间可以通过自动空腔交换能力最小化。该模型具有强大的协作、分析和表征软件。方便用户的软件提供直观的图形用户界面和自动化的工作流程,以提高效率和可重复性。FEI Helios Synthesis™软件使用户能够执行自动铣削功能并从FIB通道中提取数据。该软件还包括用于获取纳米级结构精确3 D图像的Nanoscopy模块。DualBeam 835优化了成像和纳米加工，使其成为各种材料表征和纳米加工应用的理想工具。SEM和FIB技术的结合，精确的样本操纵，与多种离子的兼容性，先进的软件，以及肖特基野外发射枪的高性能，使设备成为科学研究和实验的宝贵工具。
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