二手 FEI DualBeam 835 #293822826 待售

ID: 293822826
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI DualBeam 835是为各种应用而设计的精密离子铣削设备。它可以用于一系列的纳米技术和材料研究,从电气结构分析到生物样品制备。该系统结合了两个聚焦的离子束,一个电子束和一个离子束,使得它可以用于在非常小的表面上有针对性地蚀刻和沉积材料。DualBeam 835利用高精度的SCULPT+离子铣削技术来控制聚焦离子束的电压、电流、束角和光斑大小。这项技术允许用户在将材料蚀刻和沉积到样品表面上时获得最一致和高分辨率的结果。因此,高度复杂的结构可以为各种应用程序精确蚀刻和阵列。FEI DualBeam 835设计易于使用和用户友好。它提供了一个干净和安全的工作环境,一个机器人样品加载设计,简化了过程。自动化的样品切片工艺可以精确地切割和沉积材料,使用户能够快速高效地工作,而不必担心危险化学品。硬件方面,DualBeam 835配备了几个高级功能。它有一个提供高达400kV加速度电压的优化电子柱和一个使用斯塔克效应发射器的冷阴极离子源。这样可以确保实现高质量的离子蚀刻和沉积。此外,该装置还具有高度适应性的纳米气体喷射机,可让操作员控制气流和腔室压力,确保最佳蚀刻环境和条件。FEI DualBeam 835是研究纳米技术和材料科学的宝贵工具。它提供了一种在微观层面分解物质的高效、准确的方法,允许用户研究样品材料的结构、特性和其他特性。此外,其清洁设计确保研究人员不接触危险化学品,从而提供安全和准确的工作环境。
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