二手 FEI DualBeam 835 #9285511 待售

FEI DualBeam 835
ID: 9285511
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI DualBeam 835是一款离子铣削设备,旨在为纳米材料研究提供高分辨率成像解决方桉。这种双束成像系统结合了聚焦离子束和扫描电子显微镜,提供亚纳米分辨率能力。它非常适合广泛的应用,如3 D表面原子分辨率表面成像、3 D地下成像、表面电压映射、定量元素分析、离子溅射深度剖析、晶体结构分析和透射电子显微镜。DualBeam 835单元由离子柱和扫描电子显微镜(SEM或EDX)组成。离子柱由离子源、光束光学元件和聚焦元件组成。采用双束技术,结合高能离子提取和低能电子束活化,有效处理复杂结构。高能材料喷射有助于定义明确的块状结构,提供精确的3D表面地形和原子尺度的高分辨率成像。机器的SEM部分允许对原位材料进行分析。电子束与被测物体之间的相互作用会产生二次电子,为所研究的材料提供洞察力。这些电子由工具检测,并通过二次电子检测进行分析。FEI DualBeam 835资产也对先前型号FEI 831进行注释和图像处理改进。该模型显着地提高了视野,从低分辨率提高到亚度计分辨率。它的双光束方法也对最复杂的结构产生了更好的对比度和图像清晰度。这种成像设备具有多种特性,如提高精度和分辨率的双光束轮廓调整工具。再者,DualBeam 835可以通过图形用户界面进行控制,这使得系统的控制和操作更加容易。总体而言,FEI DualBeam 835旨在为纳米材料研究提供高分辨率成像解决方桉。此功能强大的单元采用双光束技术,提供卓越的成像体验,提高了分辨率和对比度,并改进了注释和图像处理功能。利用用户友好的图形用户界面,离子柱和扫描电子显微镜可以轻松操作和控制。
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