二手 FEI Helios NanoLab 400S #293729607 待售

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离子研磨机/离子减薄仪
製造商
FEI
模型
Helios NanoLab 400S
ID: 293729607
优质的: 2010
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Detectors: ETD, TLD, STEM Omniprobe manipulator Stage tilt: +60° / -3° Stage rotation: +180° / -180° EDS system: EDAX Apollo XL 30 mm² PC Keyboard 2010 vintage.
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