二手 FEI Strata FIB 205 #9293814 待售

FEI Strata FIB 205是一种双光束离子铣削设备,能够对各种材料进行精确切片和成像。该系统专门设计用于提供先进光刻、电子光谱、纳米分析样品制备、材料表征、故障分析和研究应用的自动化、高精度的横截面样品。该单元包括一个离子束、一个聚焦离子束（FIB）柱和一个可选的用于相关成像的高分辨率场发射扫描电子显微镜（FESEM）。Strata FIB 205中的离子束源是一种焦点式离子枪，具有高能量的、以移液为基础的液态金属离子源。在光束电流高达2.5 mA的情况下，精制的Ga离子束通过通道晶体单色仪传播，提供一束所需能量和化学成分的离子。这种电子聚焦光束进一步通过静电口袋透镜进行精细光束操纵。FIB柱具有用于纳米级横向控制的压电x-y级和用于样品精确垂直控制的石英z级。它与三轴自动化级集成在一起,实现了多位置、多层次的定向铣削以及样品在铣床内的精确定位。对于高分辨率成像,全封闭式隔振台结合了自动样品卡盘、滑动密封、低theta检测器和低背景反向散射检测器,可在单个平台上进行SEM成像和EDX分析。FIB柱有两种自动3D FIB铣削的扫描模式，即反向散射和二次电子成像（SEI）。反向散射模式和SEI模式都得益于聚焦离子束，使微米和纳米分别具有铣削精度。FEI Strata FIB 205提供高吞吐量,精度更高,分辨率高达10nm,样品损坏最小。自动化机器还具有很高的灵活性，使研究人员能够在不影响性能的情况下从一种材料移动到另一种材料。随着材料科学和纳米技术的迅速突破，这一尖端工具为这些领域的进步做出了重大贡献。