二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293808611 待售
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ID: 293808611
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Platinum gas
Omniprobe
Sirion UHR E Column
Magnum ion column
Beam current: Up to 20 nA.
FEI Nova Nanolab 600i是一种双光束聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)离子铣削设备,能够进行先进的样品制备技术。该系统结合了离子束在低电压下的功率,以及扫描电子显微镜的柔韧性。这一单元可以精确控制和分析材料的物理结构和化学成分,无论是在其自然状态下还是在受到操纵时。仪器设计将高分辨率聚焦离子束柱与一台机器内的扫描电子显微镜柱结合在一起。这提供了一个独特的能力,精确磨掉层层材料,然后用高分辨率显微镜分析结果。该工具包含一个样品和加速度电位分别为0-10kV、低分辨率和高分辨率成像的光斑大小分别为1和5 nm的氙离子源。二次电子探测装有高能中性原子(ENA)探测器和扩展范围的反向散射探测器。离子铣削资产配备了一系列高级功能。例如,自动铣削序列允许在铣削过程中进行精细的控制和精确度,从而便于逐层样品制备。计算机控制的阶段和离子/SEM探测使精细的细节收集有关样品,具有很高的精确度。可以控制不同程度的灵敏度,允许有针对性的样品制备。NovaNanolab 600i是一种功能强大、用途广泛的离子铣削模型,能够为进一步的分析和研究准备样品。FEI Nanolab 600i能够从物理和化学两个方面对样品进行高层次的详细分析,为纳米材料和其他复杂样品的研究提供了一个极好的选择。它的自动化功能提供了对铣削工艺参数的精确控制,允许以高效和受控的方式铣削精致和珍贵的材料。这可以进行一系列实验,对材料的特性和行为产生宝贵的见解。
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