二手 PHILIPS / FEI Strata 205 #293818080 待售

PHILIPS / FEI Strata 205
ID: 293818080
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Strata 205是一种精密的离子铣削设备,设计用于电子显微镜和微分析领域的高精度样品制备。该系统结合了先进的离子铣削技术,使用户能够实现纳米级的精确材料去除,使其成为研究和分析需要超细表面饰面的应用的宝贵工具。FEI Strata 205的核心是它的离子源,它产生一个聚焦的离子束,可以指向样品表面。通过用这些高能离子轰击样品,物质被溅走,允许受控的物质去除。该工艺非常适合将样品稀释至所需厚度,用于透射电子显微镜(TEM)分析、抛光以去除表面损伤或准备横截面以进行详细的微观结构分析。飞利浦Strata 205的主要特点之一是在离子束控制方面的灵活性。用户可以调整诸如光束能量、电流和入射角等参数,以根据特定样品要求定制铣削工艺。这种灵活性允许精确控制物料去除率,确保样品的制备具有很高的准确性和可重复性。Strata 205除了具有先进的离子束控制功能外,还配备了一系列样品处理功能,以增强用户体验和生产力。该装置包括一台通用的台式机器,在铣削过程中便于样品加载和精确定位。自动控制和软件接口进一步简化了示例准备过程,使用户能够轻松高效地导航工具并执行复杂的铣削任务。PHILIPS/FEI Strata 205还配备了先进的成像和监控工具,以辅助样品制备。实时成像系统提供铣削过程的视觉反馈,允许用户根据需要监视样品稀释和调整参数。此外,RHEED(反射高能电子衍射)等原位监控工具对铣削过程中的样品表面结构和质量提供了宝贵的见解。FEI Strata 205的设计考虑了用户安全和资产可靠性。该模型具有内置的安全联锁装置,以防止事故发生,并确保操作过程中的操作员保护。此外,该设备还具有坚固性和长期性能,使其成为要求苛刻的研究环境中可靠的工具。PHILIPS Strata 205离子铣削系统是电子显微镜和微观分析中高精度样品制备的一种强大而通用的工具。Strata 205具有先进的离子束控制功能、用户友好的特性和可靠的性能,对于研究人员和分析人员而言,它是一项宝贵的资产,他们在需要超细表面饰面和纳米级精确去除材料的各个领域工作。
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